OPTM 系列顯微分光膜厚儀 參考價：面議
OPTM 系列顯微分光膜厚儀使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過絕對反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學常數(shù)分析。可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)·ELSZneo 參考價：面議
ELSZ series的高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。...
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