致茂射頻 LCR表MODEL 11090-030 返回列表頁

致茂射頻 LCR表MODEL 11090-030產(chǎn)品簡介

Chroma 11090-030 射頻LCR表為一提供貼片電感及射頻濾波器等被動(dòng)組件高頻量測評(píng)估解決方案。其高達(dá)300MHz的測試頻率，對(duì)于POL或一般小型DC-DC Converter之電感組件，不僅滿足日益增高的標(biāo)稱頻率測試外，更可滿足需要于超高頻檢測才能測出之質(zhì)量異常。此外，同樣能滿足如EMI-Filter、Ferrite Bead等慣用的100MHz阻抗測試需求。

涵蓋量測項(xiàng)目 Z, θz, Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp,Cs, Cp, Rs, Rp, D, Q 等各種被動(dòng)組件測試所需的主、副參數(shù)。100kHz~300MHz的寬廣測試頻率范圍，采用RF式電流電壓轉(zhuǎn)換技術(shù)，其優(yōu)于網(wǎng)絡(luò)分析儀技術(shù)的阻抗量測范圍，高于自動(dòng)平衡橋技術(shù)的頻率量測范圍，適合研發(fā)與品保單位分析被動(dòng)組件于不同頻率下的特性。此外，搭載超低噪聲、低諧波失真訊號(hào)產(chǎn)生模塊，賦予量測訊號(hào)高質(zhì)量純凈度，進(jìn)而提升阻抗測試的準(zhǔn)確性。

0.8%的基本量測準(zhǔn)確度使量測結(jié)果呈現(xiàn)高穩(wěn)定性與高可靠性，0.5ms的快速量測可搭配自動(dòng)化機(jī)臺(tái)，能有效率地大幅提高產(chǎn)量。符合多種小型的SMD測試治具，采用改進(jìn)的下壓方式，可旋轉(zhuǎn)90度并僅需三個(gè)步驟來更換待測物 (實(shí)際測試約40秒)，能替使用者減少更換不同尺寸待測物的時(shí)間、加快測試速度、免除反復(fù)拆裝限位墊片，進(jìn)而減少損耗與后續(xù)客戶的維護(hù)費(fèi)用。

Chroma 11090-030 射頻LCR表藉由全面性設(shè)計(jì)的規(guī)格考慮與重點(diǎn)式的功能強(qiáng)化，不論是在產(chǎn)品特性研發(fā)與分析、自動(dòng)化產(chǎn)線快速測試或是各式零件進(jìn)出料管理，皆為完善的測試解決方案，為您提供市場上少數(shù)既有解決方案之外全新的選擇。

重點(diǎn)規(guī)格

■ 測試參數(shù)： Z, θz, Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp,Cs, Cp, Rs, Rp, D, Q

■ 測試頻率：100kHz~300MHz

■ 量測范圍：100mΩ~5kΩ

■ 量測速度：0.5/0.9/2.1/3.7 (ms)

■ 基本準(zhǔn)確度： ± 0.8% % (typical ± 0.45%)

■ 測試輸出能量：-40~1 (dBm)

■ 量測模式：單點(diǎn) (Point) /多點(diǎn) ( List)

■ 測試訊號(hào) (Vm,lm) 監(jiān)測功能

■ 比較與分類(13bins)選別功能

■ 接觸檢查 (Rdc 0.1Ω~100Ω @ 1mA max)

■ 開短路校正與加載補(bǔ)償功能

■ 標(biāo)準(zhǔn)接口：Handler、RS-232C、GPIB、LAN、USB(A & B type)

特點(diǎn)

■ 寬的測試頻率 : 100kHz~300MHz

■ 快速的測試速度：0.5ms/point

■ 多樣性的功能

– 校正/補(bǔ)償狀態(tài)指引

– 提供磁性組件以Rdc 為接觸檢查

– 多參數(shù)比較與分類功能

– ~401 點(diǎn)多點(diǎn)測試與曲線繪圖功能

– 清晰與引導(dǎo)式操作

■ 操作快速的SMD測試治具(TW M621845/CN 216013502U)

致茂射頻 LCR表MODEL 11090-030應(yīng)用領(lǐng)域

■ SMD電感(壓模電感/積層電感/磁珠等)

■ EMI共模線圈

■ 其他被動(dòng)組件