晶圓缺陷光學(xué)檢測(cè)設(shè)備 參考價(jià):面議
晶圓缺陷光學(xué)檢測(cè)設(shè)備是由高精度光學(xué)檢測(cè)顯微鏡搭載全自動(dòng)晶圓搬運(yùn)系統(tǒng)組成,支持4-12寸的晶圓尺寸,可輕松實(shí)現(xiàn)多角度、全視野的宏觀檢查、以及晶圓微觀細(xì)節(jié)的高清捕捉...半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)/國(guó)產(chǎn)晶圓搬運(yùn)機(jī) 參考價(jià):面議
SOPTOP AWL 系列半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)/國(guó)產(chǎn)晶圓搬運(yùn)機(jī)是由高精度光學(xué)檢測(cè)顯微鏡搭載全自動(dòng)晶圓搬運(yùn)系統(tǒng)組成,支持4-12寸的晶圓尺寸,可輕松實(shí)現(xiàn)多角度、全視...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)