廣東皓天檢測儀器有限公司
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低溫試驗箱測試電子元器件性能

參  考  價:20000 - 50000 /臺
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號

    GHTE-225PF

  • 品牌

    廣皓天

  • 廠商性質

    生產商

  • 產品資料

    查看pdf文檔

  • 所在地

    東莞市

更新時間:2024-12-06 11:34:10瀏覽次數(shù):59次

聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網
產地類別 國產 價格區(qū)間 5萬-10萬
應用領域 化工,能源,電子,汽車,電氣 溫度范圍 - 90℃~150℃
溫度波動度 ≤±0.5℃ 溫度均勻度 ±2℃
升溫速率 從 20℃~150℃,約 30min;非線性空載時,升溫速率約 3.5℃/ 分鐘 降溫速率 從 20℃~-70℃,約 75min ;非線性空載時,降溫速率約 1.0℃/ 分鐘
工作室尺寸 50×60×75CM (寬 × 深 × 高) 電源: AC380V 50/60HZ
風速 1.7~2.5m/s 樣品托架 2 層 (標配)
通訊功能 配備 RS232 或 RS485 通訊功能,可連接電腦,實現(xiàn)遠程控制
低溫試驗箱測試電子元器件性能
用于測試電容、電阻、芯片、半導體器件等電子元器件在低溫環(huán)境下的性能變化,如參數(shù)穩(wěn)定性、絕緣性能等,確保其在寒冷環(huán)境中能正常工作,提高產品的可靠性

低溫試驗箱測試電子元器件性能

 

在當今科技飛速發(fā)展的時代,電子元器件作為各類電子設備的核心組成部分,其在不同環(huán)境下的性能穩(wěn)定性至關重要。低溫試驗箱專為測試電容、電阻、芯片、半導體器件等電子元器件在低溫環(huán)境下的表現(xiàn)而設計,是保障電子產品可靠性的關鍵設備。

低溫試驗箱測試電子元器件性能


一、核心功能與技術參數(shù)

 

精準控溫系統(tǒng)

 

采用微電腦智能控溫技術,能夠精確設定并穩(wěn)定維持所需的低溫環(huán)境??販胤秶鷱V泛,可低至 [具體低溫下限溫度],溫度波動度極小,在 ±[X]℃以內,確保測試過程中溫度的一致性和準確性,為電子元器件提供穩(wěn)定可靠的低溫測試條件。

 

具備快速降溫能力,從常溫降至設定低溫的時間短,大大提高了測試效率,減少了測試周期。

 

均勻溫場設計

 

風道循環(huán)系統(tǒng)和內部結構優(yōu)化,使箱內溫場均勻性。在有效工作空間內,溫度均勻度可控制在 ±[Y]℃,保證了每個電子元器件在相同的低溫環(huán)境下進行測試,避免因溫度差異導致測試結果偏差,從而得出更精準可靠的性能數(shù)據。




低溫試驗箱測試電子元器件性能

 

二、測試項目與優(yōu)勢

 

參數(shù)穩(wěn)定性測試

 

低溫試驗箱能夠模擬極-端寒冷環(huán)境,在低溫條件下對電子元器件的各種關鍵參數(shù)進行長時間監(jiān)測。例如,對于電容,可測試其電容值、損耗角正切等參數(shù)在低溫環(huán)境下隨時間的變化情況;對于電阻,監(jiān)測其電阻值的穩(wěn)定性。通過精確的測量和數(shù)據分析,確定電子元器件在低溫下參數(shù)是否發(fā)生漂移或超出允許范圍,及時發(fā)現(xiàn)潛在的質量問題,為產品的設計改進和質量控制提供有力依據。

 

絕緣性能檢測

 

在低溫環(huán)境中,電子元器件的絕緣材料性能可能會發(fā)生變化。本試驗箱可對電容、芯片等的絕緣電阻進行測量,評估其在低溫下的絕緣性能是否滿足要求。通過施加特定的電壓,檢測絕緣介質中的泄漏電流,精確計算絕緣電阻值。若絕緣電阻在低溫下下降明顯,可能導致電子設備的漏電、短路等故障,提前發(fā)現(xiàn)并解決此類問題可有效提高電子產品的安全性和可靠性。

 

三、人性化設計與操作便捷性

 

寬敞的測試空間

 

內部工作室設計合理,提供了充足的空間,可容納多種規(guī)格和數(shù)量的電子元器件進行批量測試。同時,配備了靈活的樣品架和擱板,方便用戶根據測試需求進行調整和布局,提高測試效率和空間利用率。

 

直觀的操作界面

 

采用大屏幕液晶顯示屏,實時顯示試驗箱的溫度設定值、實際溫度值、運行時間、工作狀態(tài)等信息,一目了然。操作面板簡潔易懂,用戶可通過按鍵輕松設置各項參數(shù),如溫度、時間、制冷模式等,無需復雜的培訓即可熟練操作。

 

安全保護功能完備

 

具備多重安全保護措施,包括超溫保護、漏電保護、壓縮機過載保護等。當設備出現(xiàn)異常情況時,能夠迅速自動停機并發(fā)出警報信號,有效保護測試樣品和設備本身的安全,避免因設備故障造成的損失。

 

四、數(shù)據記錄與分析

 

數(shù)據采集與存儲

 

內置高精度的數(shù)據采集系統(tǒng),可實時記錄測試過程中的溫度數(shù)據、電子元器件的性能參數(shù)變化等信息。數(shù)據存儲容量大,可存儲大量的測試數(shù)據,方便用戶隨時查閱和分析歷史測試記錄。

 

數(shù)據分析軟件

 

配套專業(yè)的數(shù)據分析軟件,能夠對采集到的數(shù)據進行深入處理和分析。軟件可生成詳細的測試報告,包括溫度曲線、參數(shù)變化曲線、統(tǒng)計分析結果等,以直觀的圖表形式呈現(xiàn)給用戶,幫助用戶快速準確地評估電子元器件在低溫環(huán)境下的性能表現(xiàn),為產品研發(fā)和質量改進提供有力的數(shù)據支持。

 

五、廣泛應用領域

 

低溫試驗箱在電子行業(yè)中具有廣泛的應用。無論是消費電子領域的手機、平板電腦、智能穿戴設備,還是工業(yè)控制領域的自動化設備、通信基站設備等,其電子元器件都需要經過嚴格的低溫性能測試。通過使用本低溫試驗箱,可確保這些電子產品在寒冷環(huán)境下能夠穩(wěn)定可靠地運行,提高產品的市場競爭力和用戶滿意度。

 



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