日本進口NCC顆粒/灰塵高精度目視清潔檢查燈 ZEUS缺陷的原因可以很容易地看到并消除?！癦EUS"是工作場所的清潔檢查燈，旨在實現(xiàn) 0% 的缺陷率。

德國Hornung高純氣體/液體減壓壓力調(diào)節(jié)器 HP 320純度高達 6.0 的高純度氣體管路壓力調(diào)節(jié)器適用于生產(chǎn)工廠或醫(yī)療或化學工業(yè)。它們尤其適用于實驗室，用...

德國Hornung管路壓力調(diào)節(jié)閥耐腐蝕不銹鋼 HP 300 / HP 301系列純度高達 6.0 的高純度氣體管路壓力調(diào)節(jié)器適用于生產(chǎn)工廠或醫(yī)療或化學工業(yè)。它們...

德國Hornung高純度氣體管路壓力控制閥 HP 350純度高達 6.0 的高純度氣體管路壓力調(diào)節(jié)器適用于生產(chǎn)工廠或醫(yī)療或化學工業(yè)。它們尤其適用于實驗室，用于供...

德國hornung高純度氣體氣瓶壓力調(diào)節(jié)器閥門 HP100/HP102/HP104/HP107氣瓶壓力調(diào)節(jié)器是帶有氣體專用氣瓶接頭的減壓器，用于連接壓縮氣體氣瓶...

美國TESCOM半導體制造用減壓閥超高純度氣體 74-3000/74-3800系列TESCOM 74-3000 系列超高純度減壓穩(wěn)壓器提供 5 Ra 或 10 ...

美國TESCOM超高純度減壓閥無彈簧、螺紋設(shè)計 74-2400系列TESCOM 74-2400 系列超高純度、緊固膜片式減壓調(diào)節(jié)器提供低內(nèi)部容積和無彈簧、無螺紋...

TESCOM美國不銹鋼減壓閥調(diào)壓器半導體制造用 64-5400系列TESCOM 64-5400 系列高純度減壓穩(wěn)壓器采用 316 不銹鋼電拋光、10 Ra 表面...

TESCOM美國絕對減壓閥亞真空壓力調(diào)節(jié)器 64-5000系列TESCOM 64-5000 系列超高純度、絕對/亞真空壓力減壓調(diào)節(jié)器可提供 10 Ra 的表面光...

美國TESCOM超高純度、高靈敏度減壓閥艾默生 64-3600系列TESCOM 64-3600 系列超高純度、高靈敏度減壓閥采用低落差、緊固膜片設(shè)計，表面光潔度...

美國艾默生TESCOM超高純度壓力減壓閥調(diào)節(jié)器 64-3200/64-3400系列TESCOM 64-3200 系列超高純度、高流量膜片式減壓調(diào)節(jié)器提供 10 ...

TESCOM美國艾默生高純度氣體減壓閥穩(wěn)壓器 64-2600系列TESCOM 64-2600 系列經(jīng)濟型高純度減壓穩(wěn)壓器采用不銹鋼結(jié)構(gòu)，表面光潔度為 Ra 10...

TESCOM美國高純度、高流量減壓閥調(diào)節(jié)器 449-254系列TESCOM 449-254 系列高純度、高流量減壓調(diào)節(jié)器是高壓散裝專用氣體輸送系統(tǒng)（BSGS）的...

美國TESCOM高純度高流量在線調(diào)節(jié)器調(diào)壓閥 23系列TESCOM 23 系列超高純度在線調(diào)節(jié)器提供 10 Ra 微英寸精加工，具有高達 950 SLPM 的流...

美國TESCOM高純度氣體壓力減壓調(diào)節(jié)閥不銹鋼22-5400系列TESCOM 22-5400 系列高純度、高流量 BA 級壓力減壓閥具有 1.0 的 Cv 值和...

美國TESCOM高純度氣體減壓穩(wěn)壓器壓力調(diào)節(jié)器 22-2200系列TESCOM 22-2200 系列高純度 BA 級減壓穩(wěn)壓器采用 316 不銹鋼結(jié)構(gòu)，表面光潔...

美國TESCOM超高流量高純度氣體減壓調(diào)節(jié)器 15系列TESCOM 15 系列專為超高流量應(yīng)用而設(shè)計，流量高達 28,300 SLPM。15 系列是超高純度、1...

美國艾默生TESCOM半導體用壓力調(diào)節(jié)器減壓閥 12系列采用技術(shù)的0EM氣體系統(tǒng)用于的產(chǎn)品·通過超高靈敏度的壓力調(diào)整來提高MFC性能強化在廣泛的應(yīng)用中...

日本katsura全視場波前像差測量裝置全自動 AW-1000這是一種可以全自動測量鏡頭光軸上和離軸波前像差的設(shè)備。

日本katsura位移傾斜傳感器高精度測量評估 VH-1100可用于測量和評估安裝在智能手機等中的自動對焦（AF）執(zhí)行器VCM。通過使用鏡面目標，可以同時測量位...