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首頁>>上海首立實(shí)業(yè)有限公司>>產(chǎn)品展示>>韓國NanoSvstem>>非接觸光學(xué)表面接觸測量

  • 非接觸(光學(xué))方式表面形貌測量 參考價(jià):面議

    NV-2700 Lay-Out以 非接觸(光學(xué))方式表面形貌測量技術(shù)為核心技術(shù) 構(gòu)建,以*技術(shù)得到客戶的認(rèn)證常用化非接觸式面形貌測量技術(shù)以后,在工業(yè)Vision...
    型號: NV-2700 L... 廠商性質(zhì):代理商所在地:上海 對比
    非接觸(光學(xué))方式表面形貌測量Interference Line三次元形貌測量技術(shù)光干涉測量原理NV-2700 Lay-Out
    2024/3/20 11:23:561980

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