首頁>>上海首立實(shí)業(yè)有限公司>>產(chǎn)品展示>>韓國NanoSvstem>>非接觸光學(xué)表面接觸測量
非接觸(光學(xué))方式表面形貌測量 參考價(jià):面議
NV-2700 Lay-Out以 非接觸(光學(xué))方式表面形貌測量技術(shù)為核心技術(shù) 構(gòu)建,以*技術(shù)得到客戶的認(rèn)證常用化非接觸式面形貌測量技術(shù)以后,在工業(yè)Vision...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)