一、產(chǎn)品介紹

LW200-4JT適用于廠礦企業(yè)、高等院校及科研機(jī)構(gòu)作金相、巖相、礦相等材料表面組織結(jié)構(gòu)的薄片觀察檢測(cè)。也可用于電子工業(yè)部門(mén)作晶體，芯片及新材料等方面的檢驗(yàn)與分析。

*的100X干鏡可媲美國(guó)外同類(lèi)產(chǎn)品,為國(guó)內(nèi)市場(chǎng)配置zui的產(chǎn)品.

二、主要技術(shù)參數(shù)：

1．三目鏡筒：傾斜45 °可旋轉(zhuǎn)360 °，瞳距55mm-75mm

             視度±5°輔助倍數(shù)1.25X

2．平場(chǎng)目鏡：高眼點(diǎn)10X/20mm可選配市場(chǎng)地直徑24mm

3．長(zhǎng)距平場(chǎng)物鏡: PLL4X/37.5，10X/7.31，40X/0.63，80X/0.96

4．總放大倍數(shù)：40X-800X

5．載物臺(tái)：尺寸160mm*140mm
 移動(dòng)范圍 75*50mm

6．聚焦鏡：可調(diào)式阿貝聚焦鏡NA1.25 
孔鏡光欄  濾色片座

7．調(diào) 焦 ：粗微動(dòng)同軸  升降范圍25mm 
微動(dòng)格值0.002mm 

8.暗場(chǎng)裝置

9．光 源：柯勒照明  正交偏振裝置 濾色片座           
可調(diào)鹵素?zé)?12V/50W   

可選配件:300萬(wàn)數(shù)字彩色攝像頭,金相分析軟件

         佳能數(shù)碼相機(jī)  100X（干鏡）