目錄:大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司>>非線性光學(xué)系列>>Z掃描測(cè)試系統(tǒng)>> Z掃描測(cè)試系統(tǒng)-ZTS100
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更新時(shí)間：2024-12-04 11:44:19瀏覽次數(shù)：683評(píng)價(jià)
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
|---|
Z掃描測(cè)試系統(tǒng)-ZTS100主要技術(shù)指標(biāo)：
精密光學(xué)位移臺(tái)
速度 | 30mm/s |
最小分辨率 | 0.1μm |
重復(fù)定位精度 | ＜2μm |
功率探測(cè)器 | |
測(cè)試波長(zhǎng) | 350-1700nm |
功率檢測(cè)范圍 | 50nW-40mW |
抖動(dòng)消除 | 參比雙通道信號(hào)同時(shí)采集 |
Z掃描測(cè)試系統(tǒng)-ZTS100應(yīng)用實(shí)例：
實(shí)驗(yàn)條件
樣品名稱 | 單晶硅 |
激發(fā)光波長(zhǎng) | 1030nm |
探測(cè)光波長(zhǎng) | 1030nm |
大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司基于自主創(chuàng)新的時(shí)間分辨光譜技術(shù)，致力于推動(dòng)光譜技術(shù)在科研和工業(yè)領(lǐng)域的深入應(yīng)用。在科研儀器領(lǐng)域，創(chuàng)銳光譜由一線專家?guī)ш?duì)，是目前國(guó)內(nèi)極少具備瞬態(tài)光譜獨(dú)立研發(fā)-生產(chǎn)-應(yīng)用完整能力體系的團(tuán)隊(duì)。創(chuàng)銳光譜以時(shí)間分辨光譜核心技術(shù)，超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)為核心產(chǎn)品，打破進(jìn)口壟斷格局。主要產(chǎn)品包括瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)、共聚焦熒光成像系統(tǒng)、DPSS納秒激光器及高速探測(cè)器。在工業(yè)半導(dǎo)體檢測(cè)領(lǐng)域，公司以光譜技術(shù)創(chuàng)新為核心立足點(diǎn)，已迅速完成碳化硅襯底、外延、氮化鎵、鈣鈦礦電池等多領(lǐng)域布局。
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