Dimension lcon 原子力顯微鏡 返回列表頁

Bruker Dimension   lcon"原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了全新的應(yīng)用體驗，具有高水平的性能、功能和配件選擇，其測試功能強大，操作簡便易行。齊集 Dimension系統(tǒng)數(shù)十年的技術(shù)經(jīng)驗，廣大客戶反饋，結(jié)合工業(yè)領(lǐng)域的設(shè)備需求， Dimension lcon進(jìn)行了全面革新。全新的系統(tǒng)設(shè)計，實現(xiàn)了的低漂移和低噪音水平。現(xiàn)在用戶只需要幾分鐘就可獲得真實準(zhǔn)確的掃描圖像。

┃ 設(shè)備特點

• 空間分辨率下的完備表面表征 

采用大樣品臺的 Dimension Icon AFM 幫助提升了原子力顯微鏡技術(shù)和材料科學(xué)領(lǐng)域的發(fā)展，在世界范圍內(nèi)已有超過千篇的科研文獻(xiàn)發(fā)表。在此平臺上集成了 30多年來原子力顯微鏡的技術(shù)，為納米力學(xué)、電學(xué)、電化學(xué)研究提供了特制的表征技術(shù)。您會從中獲得商用 AFM 設(shè)備的性能表現(xiàn)，進(jìn)展，異的測量重復(fù)性和操作簡便性

• 納米力學(xué)性質(zhì)定量分析應(yīng)用 

Dimension Icon 平臺的納米力學(xué)套裝提供一系列完整的快速定量表征材料納米力學(xué)性質(zhì)的功能模式，適用樣品涵蓋了軟且粘的凝膠和復(fù)合材料樣品到堅硬的金屬和陶瓷材料。 納米力學(xué)套裝包含了 AFM 納米力學(xué)測量發(fā)展歷程中的多種模式，包括布魯克推出的革命性的 AFM-nDMA 模式，它性地將納米力學(xué)測試結(jié)果與傳統(tǒng) DMA 測試相結(jié)合

• 多維納米電學(xué)表征

Dimension Icon 的納米電學(xué)套裝包含了的納米電學(xué)測量模式組合。對比于接觸模式下的電學(xué)測量模式，布魯克的 PeakForce TUNA  和 PeakForce KPFM  模式將電學(xué)性質(zhì)和力學(xué)性質(zhì)相關(guān)聯(lián)起來，拓展了可研究材料的范圍，也有了顯著的論文發(fā)表記錄。現(xiàn)今，布魯克的 DataCube 模式更提供了圖像上每個像素點上的多維度電學(xué)譜線，并在單次測量中同步獲得樣品的電學(xué)和力學(xué)性質(zhì)

• 具有商用分辨率的掃描電化學(xué)顯微鏡

在 Dimension ICON AFM 上搭載納米電化學(xué)模塊（Nano EC），可以為電化學(xué)反應(yīng)的實時定量分析提供可靠地測量方法。利用 EC-AFM 和 PeakForce SECM  模塊，可實現(xiàn)在電化學(xué)池中進(jìn)行原位的形貌掃描，并且適用于在化學(xué)溶劑中（包括揮發(fā)性溶液）長時間原位電極反應(yīng)研究