低溫探針臺系列 返回列表頁

        低溫探針臺主要用于電學(xué)、磁學(xué)、微波、THz、光學(xué)等多種測量，可以根據(jù)客戶需要，選擇不同的溫度和磁場配置。客戶可以選擇自己搭配測試儀表集成各類測試，也可以選擇我們的整體測試解決方案，如電輸運(yùn)測試、半導(dǎo)體分析測試、霍爾效應(yīng)測試、鐵電分析測試，集成光學(xué)測試等。

┃ 設(shè)備特點(diǎn)

• ±2.5T磁場，可定制5T磁場

• 低溫至1.6K，高溫至675K

• 可測8英寸晶圓樣品

• 67GHz高頻探針

• 3 kV 高電壓探針

• 大溫區(qū)低溫漂探針

• 真空腔聯(lián)用傳送樣品

• ＜30 nm低振動適用于顯微光學(xué)測量

• 霍爾效應(yīng)、鐵電、半導(dǎo)體分析測試選件