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中級(jí)會(huì)員 | 第2年

18600717106

低溫探針臺(tái)系列

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品       牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

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更新時(shí)間：2024-11-18 13:11:21瀏覽次數(shù)：190次

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低溫探針臺(tái)主要用于電學(xué)、磁學(xué)、微波、THz、光學(xué)等多種測(cè)量，可以根據(jù)客戶需要，選擇不同的溫度和磁場(chǎng)配置

        低溫探針臺(tái)主要用于電學(xué)、磁學(xué)、微波、THz、光學(xué)等多種測(cè)量，可以根據(jù)客戶需要，選擇不同的溫度和磁場(chǎng)配置?？蛻艨梢赃x擇自己搭配測(cè)試儀表集成各類測(cè)試，也可以選擇我們的整體測(cè)試解決方案，如電輸運(yùn)測(cè)試、半導(dǎo)體分析測(cè)試、霍爾效應(yīng)測(cè)試、鐵電分析測(cè)試，集成光學(xué)測(cè)試等。



┃ 設(shè)備特點(diǎn)


  • ±2.5T磁場(chǎng)，可定制5T磁場(chǎng)

  • 低溫至1.6K，高溫至675K

  • 可測(cè)8英寸晶圓樣品

  • 67GHz高頻探針

  • 3 kV 高電壓探針

  • 大溫區(qū)低溫漂探針

  • 真空腔聯(lián)用傳送樣品

  • ＜30 nm低振動(dòng)適用于顯微光學(xué)測(cè)量

  • 霍爾效應(yīng)、鐵電、半導(dǎo)體分析測(cè)試選件

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