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PSEL勞厄衍射系統(tǒng)

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產(chǎn)品型號

品       牌

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更新時間：2024-11-18 13:17:24瀏覽次數(shù)：191次

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該設備利用背衍射法探測材料的晶體結構，常用于單晶定向、測定晶體對稱性、表征晶體的成晶質量等

        該設備利用背衍射法探測材料的晶體結構，常用于單晶定向、測定晶體對稱性、表征晶體的成晶質量等。支持實時成像和累計曝光兩種工作模式，最長曝光時間達30分鐘，最短可至毫秒?？臻g分辨率高、用戶界面直觀。



┃ 設備特點


  • PSEL軟件定向誤差低至0.05度

  • 多晶硅片二維定向mapping

  • 大批量樣品篩選

  • 超20kg重負荷樣品定位

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