PSEL勞厄衍射系統(tǒng) 返回列表頁(yè)

舉報(bào) 評(píng)價(jià)

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所在地

在線詢價(jià) 加入對(duì)比查看聯(lián)系電話

更新時(shí)間：2024-11-18 13:17:24瀏覽次數(shù)：246次

聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自化工儀器網(wǎng)

同類優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品更多>

正置顯微鏡

參考價(jià) 面議
偏光顯微鏡

參考價(jià) 面議
倒置顯微鏡

參考價(jià) 面議
體式顯微鏡

參考價(jià) 面議
共聚焦顯微鏡

參考價(jià) 面議

產(chǎn)品分類品牌分類

測(cè)試設(shè)備: 力學(xué)測(cè)試設(shè)備電學(xué)測(cè)試設(shè)備電化學(xué)測(cè)試設(shè)備熱學(xué)測(cè)試設(shè)備光學(xué)測(cè)試設(shè)備磁學(xué)測(cè)試設(shè)備聲學(xué)測(cè)試設(shè)備

全部產(chǎn)品列表

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

該設(shè)備利用背衍射法探測(cè)材料的晶體結(jié)構(gòu)，常用于單晶定向、測(cè)定晶體對(duì)稱性、表征晶體的成晶質(zhì)量等

詳情介紹

該設(shè)備利用背衍射法探測(cè)材料的晶體結(jié)構(gòu)，常用于單晶定向、測(cè)定晶體對(duì)稱性、表征晶體的成晶質(zhì)量等。支持實(shí)時(shí)成像和累計(jì)曝光兩種工作模式，最長(zhǎng)曝光時(shí)間達(dá)30分鐘，最短可至毫秒?？臻g分辨率高、用戶界面直觀。

┃ 設(shè)備特點(diǎn)