北京盈思拓科技有限公司
中級會員 | 第2年

17710506869

當(dāng)前位置：北京盈思拓科技有限公司>>測試設(shè)備>>光學(xué)測試設(shè)備>> Sendira紅外光譜橢偏儀

Sendira紅外光譜橢偏儀

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號

品       牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所  在  地

更新時間：2024-11-18 13:19:09瀏覽次數(shù)：534次

聯(lián)系我時，請告知來自 化工儀器網(wǎng)
同類優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品更多>
SENDIRA紅外光譜橢偏儀振動光譜的特點是傅立葉紅外光譜儀FTIR

        SENDIRA紅外光譜橢偏儀振動光譜的特點是傅立葉紅外光譜儀FTIR。測量紅外分子振動模的吸收譜帶，分析長分子鏈的走向和薄膜的組成。紅外光譜橢偏儀適用于測量導(dǎo)電膜的電荷載流子濃度。


        光譜橢偏儀SENDIRA用于測量薄膜厚度，折射率，消光系數(shù)以及體材料，單層和多層堆疊膜的相關(guān)特性。特別是覆蓋層下面的層在可見范圍內(nèi)是不透明的，現(xiàn)在也可以進(jìn)行測量。同時可以分析材料的組成和大分子基團(tuán)和分子鏈的走向。

會員登錄

×

請輸入賬號

請輸入密碼

=

請輸驗證碼

收藏該商鋪

X
該信息已收藏！
標(biāo)簽：
保存成功

(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)

常用：

提示

X
您的留言已提交成功！我們將在第一時間回復(fù)您~
撥打電話
在線留言