精密離子減薄儀 返回列表頁

PIPS Ⅱ 精密離子減薄儀用于高質(zhì)量透射電鏡樣品的制備，它可精確定位減薄位置并對工藝參數(shù)進(jìn)行準(zhǔn)確控制。

PIPS Ⅱ 精密離子減薄儀設(shè)備特點(diǎn)：

使用 X、Y 樣品臺(tái)來把減薄區(qū)域精確定位到離子束交叉點(diǎn)

改進(jìn)低電壓性能的離子槍，有用電壓低至 100 伏，從而快速安全地對 FIB 制備的TEM樣品進(jìn)行拋光

利用 DigitalMicrograph  軟件和光學(xué)數(shù)碼顯微鏡進(jìn)行圖像存儲(chǔ)和分析

10 英寸彩色觸摸屏可用于顯示和控制所有 PIPS  II 參數(shù)

公司深耕國內(nèi)科研市場近十年，以中科院等專業(yè)院所背景的技術(shù)力量為依托， 為國內(nèi)各大科研機(jī)構(gòu)及材料研究客戶提供科研儀器設(shè)備和專業(yè)技術(shù)服務(wù)。公司以代理國內(nèi)外材料化工方向的儀器設(shè)備為核心業(yè)務(wù)，產(chǎn)品覆蓋材料制備、表征、光、熱、 電、磁等研究領(lǐng)域。