現(xiàn)貨日本otsukae日本進(jìn)口多通道光譜儀多功能多通道光譜探測(cè)器，支持紫外到近紅外區(qū)域。頻譜測(cè)量?jī)H需 5ms 即可完成。用作標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備的光纖使其可以與各種測(cè)量系統(tǒng)...

OTSUKA日本大塚電子高靈敏度光譜HS-1000輻射計(jì)OTSUKA日本大塚電子高靈敏度光譜輻射計(jì)這是一款光譜輻射亮度計(jì)，可以從低亮度到高亮度進(jìn)行高速且高精度的...

日本OTSUKA玉崎科學(xué)供應(yīng)大冢FE-300光學(xué)膜厚量測(cè)儀日本OTSUKA玉崎科學(xué)供應(yīng)大冢光學(xué)膜厚量測(cè)儀這是一款小型、低成本的膜厚計(jì)，采用高精度光學(xué)干涉法測(cè)量膜...

大塚電子ELSZneoSE粒度測(cè)量系統(tǒng)陶瓷色料半導(dǎo)體領(lǐng)域大塚電子粒度測(cè)量系統(tǒng)陶瓷色料半導(dǎo)體領(lǐng)域特征可根據(jù)應(yīng)用添加功能（分子量測(cè)量、顆粒濃度測(cè)量、微流變測(cè)量、凝膠...

現(xiàn)貨OTSUKA大塚電子界達(dá)電位粒徑ELSZneo分析儀現(xiàn)貨OTSUKA大塚電子界達(dá)電位粒徑分析儀[ELSZneo 將光散射物理性質(zhì)評(píng)估　　　　推向新階段] 這...