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當前位置:玉崎科學儀器(深圳)有限公司>>HITACHI日立>>原子吸收光度計>> ZA3300日立原子吸收分光光度計 偏振塞曼背景校正
產(chǎn)品型號ZA3300
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時間:2024-08-07 18:32:55瀏覽次數(shù):195次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 1萬-2萬 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,綜合 |
日立原子吸收分光光度計 偏振塞曼背景校正
日立原子吸收分光光度計 偏振塞曼背景校正
ZA3000系列是應(yīng)廣大用戶需求研發(fā)的新型元素分析儀,秉承日立的偏振塞曼背景校正技術(shù),新開發(fā)了其他同類產(chǎn)品所沒有的多種技術(shù),性能更,可獲得更高的靈敏度和更優(yōu)的準確度。
日立偏振塞曼原子吸收分光光度計,創(chuàng)新永無止境!
ZA3300系列是一款新型火焰原子吸收分光光度計,在確?;拘阅埽ɡ纾焊呔群透哽`敏度)的前提下,采用其他原子吸收分光光度計無法實現(xiàn)的技術(shù),提升其性能和可靠性。
火焰原子吸收分光光度計
ZA3300
塞曼背景校正(190-900nm),
開機即可測樣
提高火焰操作的安全性和便利性
軟件語音系統(tǒng)提示,全程序?qū)崟r監(jiān)控
特點:
基本性能提升
190nm~900nm全譜采用塞曼背景校正技術(shù),可扣除所有背景干擾(包含結(jié)構(gòu)背景)
全時雙光束技術(shù),樣品信號和參比信號同時檢測,可獲得穩(wěn)定基線(±0.0004Abs)
操作簡便可靠
“提升的基本性能"和“新增功能"的實現(xiàn)是基于日立原子吸收分光光度計的直流偏振塞曼校正技術(shù)。
所有元素都可實現(xiàn)高可靠性的背景校正,用戶可通過軟件實現(xiàn)相應(yīng)分析。
分析實例:
火焰法分析糙米中的鎘
偏振塞曼校正法的基線穩(wěn)定性高,即使當糙米中的鎘濃度低于0.4 ppm時,也可以采用火焰分析法。
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