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更新時(shí)間:2024-10-18 21:48:09瀏覽次數(shù):155評(píng)價(jià)
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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PIPS探測(cè)器簡(jiǎn)介
PIPS 探測(cè)器是Mirion(Canberra)的專業(yè)技術(shù),其性能超越了傳統(tǒng)的金硅面壘(SSB)型探測(cè)器和擴(kuò)散注入(DJ)型探測(cè)器,這兩種探測(cè)器的制造方法仍與 1960 年相同。
PIPS 探測(cè)器相比 SSB 和 DJ 探測(cè)器具有許多優(yōu)勢(shì):
1、所有結(jié)邊緣都被隱藏在內(nèi)部,不需要使用環(huán)氧樹脂密封劑來保護(hù);
2、通過離子注入形成精確、薄、突變的結(jié),確保了對(duì)α粒子具有良好的分辨率;
3、入射窗堅(jiān)固耐用,易于清潔;
4、漏電流通常只有 SSB 和 DJ 探測(cè)器的1/8到1/100;
5、死層(窗口)厚度比SSB和DJ探測(cè)器更?。?/span>
6、A450-18 AM(450mm2)標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器可加熱至100℃—特殊型號(hào)可更高。
PIPS 探測(cè)器正面接觸面(入射窗口)是通過離子注入技術(shù)實(shí)現(xiàn)的,Mirion(Canberra)具有技術(shù),可最大限度地做薄窗口厚度并精確控制氧化物的鈍化過程,可生產(chǎn)具有極薄入射窗口(<50 nm)的探測(cè)器,同時(shí)保持接觸面的堅(jiān)固性、可靠性和穩(wěn)定性。
PIPS 探測(cè)器的薄窗口不僅提升了常規(guī)測(cè)量下的分辨率,而且在探測(cè)器與輻射源距離很近時(shí)其性能提升更為顯著。
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PIPS探測(cè)器特點(diǎn)
1、技術(shù)PIPS 探測(cè)器,入射窗薄≤50nm,高度穩(wěn)定性,極低漏電流、噪音及本底,表面可碰觸、清洗;
2、自帶反沖抑制功能,有效地避免探測(cè)器污染(Canberra技術(shù));
3、探測(cè)器有效厚度: 140μm,對(duì)于能量最高可達(dá)15MeV的alpha粒子,足以吸收,大大優(yōu)于市面上有效厚度僅為100μm的探測(cè)器;
4、具有高分辨率;
5、能夠耐受高達(dá)100°C的溫度;
6、可重峰剝譜擬合分析;
7、提供一個(gè)清潔的排氣口,可接入干燥清潔氣體排除濕氣及污染物。
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技術(shù)指標(biāo)
活性區(qū)域面積mm2 | Alpha分辨率keV | 典型本底(counts/day) | 型號(hào) |
300 | 17 | 4 | A300-17AM |
450 | 18 | 6 | A450-18AM |
600 | 22 | 8 | A600-22AM |
900 | 25 | 12 | A900-25AM |
1200 | 32 | 16 | A1200-32AM |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)