佳譜儀器鍍層測(cè)厚儀，讓您的端子鍍層質(zhì)量控制更加高效

佳譜儀器自主生產(chǎn)的鍍層測(cè)厚系列產(chǎn)品具有非破壞性、測(cè)量范圍廣、精度高等優(yōu)點(diǎn)。其原理是利用X射線照射鍍層表面，通過(guò)測(cè)量被激發(fā)出的熒光X射線的能量和強(qiáng)度，來(lái)確定鍍層的元素組成和厚度。特別適用于極薄鍍層 、雙鍍層及合金鍍層的測(cè)量。

該系列產(chǎn)品可用于電子元器件、半導(dǎo)體、PCB、FPC、LED支架、汽車零部件、功能性電鍍、裝飾件、衛(wèi)浴潔具、首飾飾品多個(gè)行業(yè)。其準(zhǔn)確、快速地測(cè)量微小部件的能力有助于提高生產(chǎn)率并避免代價(jià)高昂的返工或元件報(bào)廢。助力企業(yè)控制產(chǎn)品質(zhì)量和成本，以科技手段助力企業(yè)提高市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力、持續(xù)穩(wěn)定健康發(fā)展。