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T300V下照式鍍層測厚儀
T300V是佳譜儀器集多年X熒光光譜儀技術(shù)積累與鍍層應(yīng)用經(jīng)驗,專門設(shè)計研發(fā)的 一 款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測厚 儀,性價比高、適用性強。
該款采用先進的FP算法同時搭配高速數(shù)字多道技術(shù), 應(yīng)對各大小平面件、曲面件金屬鍍層及電鍍液檢測時檢出 限低,性能穩(wěn)定,檢出限可達0.005um,是一款頗具客戶 好評的C型腔體設(shè)計的實用型膜厚儀。
應(yīng)用領(lǐng)域
頂尖配置,值得更優(yōu)性能
相比圖2普通接收器,T300V采用了更為先進的高分辨率探測器,能將不同元素的信號準(zhǔn)確 解析,針對單層、多層或復(fù)雜合金鍍層的測量,測量精度更高,穩(wěn)定性更好。
儀器參數(shù)
選擇T300V的理由
檢測實例
T300V下照式鍍層測厚儀
T300V下照式鍍層測厚儀
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