首頁 >> 公司動(dòng)態(tài) >> 專為半導(dǎo)體行業(yè)設(shè)計(jì), 賽默飛iCAP TQs ICP-MS
搭載全新5G SoC芯片,采用7nm+EUV制成工藝的國產(chǎn)手機(jī)5G版重磅來襲??!
將5G基帶集成到SoC上,創(chuàng)新的達(dá)芬奇架構(gòu),全新的16核GPU,使得您的手機(jī)運(yùn)行更快更自然。手機(jī)性能的快速提升,歸根結(jié)底是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的蓬勃發(fā)展。
半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)最上游是IC設(shè)計(jì)公司與硅晶圓制造公司,IC設(shè)計(jì)公司依客戶的需求設(shè)計(jì)出電路圖,硅晶圓制造公司則以多晶硅為原料制造出硅晶圓。中游的IC制造公司主要的任務(wù)就是把IC設(shè)計(jì)公司設(shè)計(jì)好的電路圖移植到硅晶圓制造公司制造好的晶圓上。完成后的晶圓再送往下游的IC封測廠實(shí)施封裝與測試,即大功告成!
硅片是半導(dǎo)體制造業(yè)的基礎(chǔ)材料,硅片表面極其少量的無機(jī)雜質(zhì)元素污染都可能器件的功能喪失或者可靠性變差,例如:
硅片表面及處理硅片過程中所使用試劑中的無機(jī)元素監(jiān)測是硅片制造及使用過程中的流程,也是提升元器件性能的重要方法及指標(biāo)。
賽默飛四極桿型ICP-MS
針對半導(dǎo)體硅片表面及處理硅片所使用試劑中的無機(jī)元素雜質(zhì)含量均為痕量級別,且待測元素種類多,四極桿型ICP-MS由于其檢出限低、分析速度快等優(yōu)點(diǎn)被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)中無機(jī)雜質(zhì)元素的分析中。賽默飛可為您提供iCAP RQ單四極桿ICP-MS及iCAP TQ三重串聯(lián)四極桿型ICP-MS。
iCAP RQ 單四極桿ICP-MS
隨著半導(dǎo)體行業(yè)的不斷發(fā)展,半導(dǎo)體行業(yè)無機(jī)雜質(zhì)元素檢出可能低至1ppt。對此,賽默飛專門推出半導(dǎo)體專用串聯(lián)四極桿型iCAP TQs ICP-MS:
iCAP TQs 三重四極桿ICP-MS
性能優(yōu)勢
實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)
硅片經(jīng)VPD處理后會(huì)以溶液的形式被收集,經(jīng)VPD掃描的硅會(huì)在處理過程中與HF反應(yīng)被除去,掃描液中硅的含量很低,對儀器沒有耐高鹽的要求,采用標(biāo)配iCAP TQs ICP-MS對樣品進(jìn)行分析,測試元素為半導(dǎo)體常規(guī)關(guān)注元素。分析方法經(jīng)過Reaction Finder的優(yōu)化,測試結(jié)果真實(shí)可靠。
為驗(yàn)證TQs ICP-MS在半導(dǎo)體硅片樣品測試中的穩(wěn)定性,對掃描液進(jìn)行加標(biāo)100ng/L,連續(xù)測試兩個(gè)小時(shí)。測試結(jié)果表明,半導(dǎo)體所關(guān)注的元素在兩個(gè)小時(shí)內(nèi)RSD值均在5% 以內(nèi),證明儀器的穩(wěn)定性能良好。
賽默飛針對半導(dǎo)體行業(yè)不僅可以提供無機(jī)元素分析儀器ICP-MS,還能提供離子色譜用于陰離子分析及GC-MS用于廠務(wù)氣體中揮發(fā)性有機(jī)物的分析。除此之外,賽默飛還為客戶提供物理失效分析、電子失效分析等分析儀器。綜上賽默飛可為半導(dǎo)體企業(yè)提供完整的解決方案,助力中國半導(dǎo)體企業(yè)騰飛!
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