200KV透射電鏡Spectra 200 TEM 參考價：面議
200KV透射電鏡Spectra 200 TEM使用無邊緣效應(yīng)成像 (FFI) 可在每個樣品區(qū)采集更多的圖像，從而提高了圖片采集的日產(chǎn)出。 聽聽 FFI 如何幫...
Glacios 2 冷凍透射電鏡 參考價：面議
Glacios 2 冷凍透射電鏡可無縫集成到單顆粒分析和冷凍電子斷層掃描工作流程中，并且可在整個工作流程中實現(xiàn)便捷、無污染的樣本轉(zhuǎn)移。
半導(dǎo)體計量透射電鏡 Metrios AX TEM 參考價：面議
半導(dǎo)體計量透射電鏡 Metrios AX TEM全新設(shè)計，提供可重復(fù)的基于 TEM 和 STEM 的成像、分析和具備計量能力的計量器。
120KV透射電鏡Talos L120C TEM 參考價：面議
120KV透射電鏡Talos L120C TEM 全新設(shè)計，提供可重復(fù)的基于 TEM 和 STEM 的成像、分析和具備計量能力的計量器。
200 kV場發(fā)射透射電鏡 Talos F200i TEM 參考價：面議
200 kV場發(fā)射透射電鏡 Talos F200i TEM4k × 4k Ceta CMOS 攝像機及其大視野使得可以在整個高張力范圍內(nèi)以高靈敏度和高...
最干凈的能譜透射電鏡 Talos F200S TEM 參考價：面議
最干凈的能譜透射電鏡 Talos F200S TEM4k × 4k Ceta CMOS 攝像機及其大視野使得可以在整個高張力范圍內(nèi)以高靈敏度和高速進(jìn)行...
最深入的材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM 參考價：面議
最深入的材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM快速、精確的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示納米級細(xì)節(jié)，同時保持高潔凈度。
高稱度冷凍透射電鏡 Talos F200C TEM 參考價：面議
高稱度冷凍透射電鏡 Talos F200C TEM全新設(shè)計，提供可重復(fù)的基于 TEM 和 STEM 的成像、分析和具備計量能力的計量器。
Prisma E sem掃描電子顯微鏡 參考價：2000000
新一代Prisma E Prisma E sem掃描電子顯微鏡可搭載Thermo Scientific ColorSEM技術(shù)，該技術(shù)將傳統(tǒng)的SE或者BSE成像技...
賽默飛（原FEI）Apreo場發(fā)射掃描電子顯微鏡 參考價：3000000
賽默飛（原FEI）Apreo場發(fā)射掃描電子顯微鏡所有功能都能通過簡單的樣品處理和熟悉的 xT UI 獲得，節(jié)省了新用戶和專家級用戶的時間。可自定義的用戶界面提供...
賽默飛（原FEI）Quattro 進(jìn)口掃描電鏡 參考價：4000000
賽默飛（原FEI）Quattro 進(jìn)口掃描電鏡將成像和分析的全面性能與環(huán)境模式（ESEM）相結(jié)合，使得樣品研究得以在自然狀態(tài)下進(jìn)行。
賽默飛 原FEI掃描電鏡 參考價：5000000
賽默飛 原FEI掃描電鏡Verios XHR SEM 是FEI 的 XHR（分辨率）SEM 系列的第二代產(chǎn)品。在尖部半導(dǎo)體制造和材料科學(xué)應(yīng)用中，它可在 1 至 ...
賽默飛Axia ChemiSEM 鎢燈絲掃描電鏡 參考價：1000000
新一體化賽默飛Axia ChemiSEM 鎢燈絲掃描電鏡，該儀器將微區(qū)成分分析與電鏡成像集成在同一平臺上，快速提供所需微觀形貌及實時成分信息，幫助學(xué)術(shù)和工業(yè)用戶...
賽默飛（原FEI）Volumescope 2 sem掃描電鏡 參考價：7000000
賽默飛（原FEI）Volumescope 2 sem掃描電鏡簡單易用，讓使用者能夠精準(zhǔn)的控制實驗，已驗證的解決方案適用于各種樣品類型，保證數(shù)據(jù)采集的每一步都達(dá)到...
Axia ChemiSEM掃描電鏡 參考價：面議
Axia ChemiSEM掃描電鏡重新定義掃描電鏡工作流程，讓使用體驗更加愉悅。
Verios 5 XHR SEM超高分辨掃描電鏡 參考價：面議
Verios 5 XHR SEM超高分辨掃描電鏡利用亞納米分辨率和高材料對比度進(jìn)行納米材料表征和分析。
Quattro ESEM環(huán)境掃描電鏡 參考價：面議
Quattro ESEM環(huán)境掃描電鏡環(huán)境掃描電鏡(ESEM)，用于研究包括含水樣品在內(nèi)的各種樣品。
Prisma E環(huán)境掃描電鏡 參考價：面議
Prisma E環(huán)境掃描電鏡這種始終在線的分析能力可極大提高您的工作效率，并獲取最完整的樣品信息。
Apreo 2 SEM場發(fā)射掃描電鏡 參考價：面議
Apreo 2 SEM場發(fā)射掃描電鏡340mm內(nèi)寬，12個端口，最多同時安裝三個EDS（兩個互為180°），EDS、EBSD共面安裝并與樣品臺的傾轉(zhuǎn)軸...
Volumescope 2 SEM掃描電鏡 參考價：面議
Volumescope 2 SEM掃描電鏡對一系列廣泛的樣品類型在每個采集步驟都有驗證過的解決方案；對于容易荷電的樣品可使用低真空探測器進(jìn)行成像。
賽默飛礦物參數(shù)自動定量分析系統(tǒng) 參考價：面議
Maps Mineralogy軟件采用Maps軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，而Maps軟件為顯微鏡自動化和關(guān)聯(lián)工作流程平臺，軟件界面直觀，數(shù)據(jù)采集設(shè)置和運行比以往更加容易。
集成能譜場發(fā)射掃描電鏡 參考價：面議
Thermo Scientic™ Apreo™ ChemiSEM™ 掃描電鏡實現(xiàn)了技術(shù)創(chuàng)新，簡化了分析流程。通過全面集成用于...
美國奧利龍Orion多功能測量儀 參考價：面議
美國奧利龍Orion多功能測量儀VERSA STAR 具有大尺寸、彩色LCD 屏幕，可同時顯示讀數(shù)、通道、時間、日期、樣品編號、用戶編號和校準(zhǔn)信息。
奧立龍Orion Star A 便攜式多參數(shù)測量儀 參考價：面議
賽默飛世爾科技Orion Star A 便攜式多參數(shù)測量儀是現(xiàn)場測量很好的選擇。(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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