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美國(guó)GE探傷儀特殊探頭 原德國(guó)KK

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產(chǎn)品型號(hào)特殊探頭

品牌 GE/美國(guó)

廠商性質(zhì)代理商

所在地深圳市

更新時(shí)間:2024-12-31 12:31:06瀏覽次數(shù):2292次

聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 化工儀器網(wǎng)
產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 1萬-5萬
儀器種類 數(shù)字式 應(yīng)用領(lǐng)域 電子,航天,汽車,電氣
美國(guó)GE探傷儀特殊探頭 原德國(guó)KK,特殊探頭的范圍非常廣,我們需要把同類型的探頭歸類在一起,從產(chǎn)品型號(hào)的編號(hào)上對(duì)探頭歸類,在這種情況下,為了選擇合適的探頭。

美國(guó)GE探傷儀特殊探頭 原德國(guó)KK

 

數(shù)字化 | 渦流 | 膠片 | 檢測(cè)系統(tǒng) | 超聲波 | X射線

 

特殊探頭能為您解決特殊檢測(cè)問題

如果您正有一個(gè)檢測(cè)難題需要解決,而標(biāo)準(zhǔn)探頭不能解決您的問題,那么您需要讀讀這本小冊(cè)子。這里介紹的是已經(jīng)在許多超聲檢測(cè)領(lǐng)域獲得成功應(yīng)用的特殊探頭,它們都已經(jīng)通過檢測(cè)驗(yàn)證,得到用戶的肯定, 并且可以根據(jù)客戶需要定制。其中必有一種能解決您的檢測(cè)問題。

 

由于我們特殊探頭的范圍非常廣,我們需要把同類型的探頭歸類在一起,從產(chǎn)品型號(hào)的編號(hào)上對(duì)探頭歸類(例如B2S-0A)。在這種情況下,為了選擇合適的探頭,您必須要對(duì)檢測(cè)任務(wù)有詳細(xì)的了解。

 

解決方案是您能發(fā)給我們檢測(cè)物件的圖紙,上面標(biāo)有探頭位置,缺陷位置,可能需要的頻率等。如果您在這本冊(cè)子里沒有找到與您的檢測(cè)問題相關(guān)的信息,也請(qǐng)把你的詳細(xì)需求發(fā)給我們,我們的探頭及應(yīng)用專家將很樂意為您尋求解決方案并為您提供合適的探頭。

 

 

特殊探頭能為您解決特殊檢測(cè)問題

 

① RB…,MRB…型

用于管道周向檢測(cè)的斜探頭,能夠同時(shí)從兩個(gè)周向檢測(cè)管道的。Lemo00接頭。

② IR…型

從管道內(nèi)部檢測(cè)缺陷或測(cè)量厚度。

③ Z4R6X6/6X

多晶片探頭—4MHz,6個(gè)6x6mm晶片水浸探頭,帶2.5m探頭線。我們也能提供其他

頻率,晶片尺寸和晶片數(shù)量的探頭,相應(yīng)的多晶片斜探頭可以用來檢測(cè)橫向缺陷。

④ IALF10…型

10MHz水浸探頭,園柱曲面,晶片寬30mm,由PVDF材料制成,帶1.5m

Lemo1接口探頭線。可提供其他頻率和晶片尺寸的探頭。

 

 

 

鐵軌檢測(cè)探頭

① SESZS…型

4MHz雙 晶 直 探 頭 , 0.95m探 頭 線 ,Lemo接頭。

② SESZW…型

雙晶斜探頭,聲束同時(shí)向前,向后70º入射,2MHz,帶0.75m探頭線,Lemo1接頭。

③ WB45-01型

45º斜探頭,1MHz,頂端帶Lemo1接頭;套在夾具上組成前后串聯(lián)式檢測(cè)鐵軌。

注釋:

SESZS…型和SESZW…型都適用于鐵軌檢測(cè)系統(tǒng)自動(dòng)檢測(cè)。用于坯餅檢測(cè)時(shí)請(qǐng)參

考第6頁,板坯檢測(cè)。關(guān)于其他的檢測(cè)問題,請(qǐng)聯(lián)系我們的專業(yè)技術(shù)人員。

 

 

 

用于軸承和輪軸

① B2S-0A…型

1MHz,2MHZ,4MHZ斜探頭,晶片直徑24mm,可更換保護(hù)膜。通過不同角度延

遲塊得到7º 14º 21º 28º 縱波斜探頭。頂部Lemo1接頭。尤其適用于檢測(cè)大軸承偏

心位置的體積型缺陷。

② AW…型

斜探頭,延遲塊可更換,2MHZ,晶片直徑24mm,Lemo1接頭;適用于橫波探

傷,探頭接觸面可與曲面耦合。

③ ASW…型

斜探頭,用橫波檢測(cè)輪軸中心孔,帶有2m探頭線,Lemo1插頭一個(gè)。

④ B…S, MB…S

直探頭,可提供各種頻率,晶片直徑為10mm和24mm,帶延遲塊。B…S型為

Lemo1接頭,MB…S探頭為L(zhǎng)emo00接頭。

⑤ Z2GB1, Z4NB5

帶延遲塊的縱波斜探頭,專為電梯軸承檢測(cè)設(shè)計(jì),與Lemo 00插頭匹配。

注釋:

對(duì)于粗晶材料(由于晶粒散射而導(dǎo)致信噪比差),請(qǐng)參照第15頁“粗晶結(jié)構(gòu)材料

的檢測(cè)”。關(guān)于特大軸承檢測(cè)請(qǐng)參照第6頁“大型部件檢測(cè)”。

 

 

 

用于板坯

① SEZ4R10…型

雙晶4MHz探頭,聲束寬度約為50mm,由一個(gè)發(fā)射晶片和3個(gè)接收晶片組成,一根探頭線,帶有4個(gè)Lemo1接頭。

① 5Z6X27ND型

雙晶5MHZ探頭,聲束寬度約為25mm,帶Lemo1接頭的探頭線,尤其適合板材邊緣檢測(cè)。

② B…S-O型

提供各種頻率的直探頭,可更換保護(hù)膜,頂部Lemo1接頭。例如用于檢測(cè)平板輥筒。

③ SEZ4N30V,SEB4TV型

4MHz雙晶探頭,2.5m帶Lemo1接頭探頭線一根,即使在不斷升高的溫度下也適用于檢測(cè)平板輥筒。

④ UWB…

1 MHz,2 MHz或4 MHz入射角可調(diào)斜探頭,可以得到縱波和橫波,配有Lemo1接

口,用于產(chǎn)生蘭姆波。

 

 

 

用于大型部件

① NQP…型

用 于 直 接 接 觸 法 的 聚 焦 直 探 頭 ,2MHZ,晶片直徑34mm,50mm,或

75mm,深度越深處,焦點(diǎn)直徑越小,Lemo1接頭。尤其適用于各個(gè)方向的相

鄰缺陷。

② WQP…型

聚 焦 斜 探 頭 , 晶 片 直 徑 3 4 m m ,50mm,或75mm,深度越深處,焦點(diǎn)直徑越小,Lemo1接頭。

③ SEB…G型

雙晶探頭,1 MHz 或 2 MHz, 大晶片,深度聚焦,Lemo 00接頭。

④ GRST…型

相控陣探頭,聲束焦點(diǎn)和角度可變,可用于自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)。

 

 

 

用于特殊形狀工件

例如飛機(jī)零件

① G…MN,G…KS型

多 種 頻 率 高 分 辨 率 的 直 探 頭 , 可 更換延遲塊,Microdot接頭,G…KS為

Lemo00探頭。例如用于渦輪葉片冷卻壁 測(cè) 量 。 檢 測(cè) 塑 料 時(shí) , 延 遲 塊 可 根

據(jù) 實(shí) 際 使 用 環(huán) 境 設(shè) 計(jì) , 使 延 遲 塊 跟工件完美耦合,消除界面回波(0界面探頭)。

② H…MN…F型

高分辨率水浸探頭,多種頻率和晶片直徑可選,探頭帶有噴水耦合的噴嘴和防

水Lemo03接頭;例如用于渦輪葉片的厚度測(cè)量。

③ SMWB…

小晶片斜探頭,4 MHz,5MHz或6 MHz,晶片尺寸3mm x 4mm,Microdot接頭;例如檢測(cè)鉚釘孔的裂紋,也可用串聯(lián)式技術(shù)檢測(cè)。

 

例如:汽車部件

汽車零件的檢測(cè)幾乎是機(jī)械自動(dòng)化的?;钊?,閥門,輪軸,齒輪檢測(cè)的相關(guān)信

息可在特別發(fā)布的SD263資料中找到。點(diǎn)焊檢測(cè)的信息參見第10頁。

 

 

 

 美國(guó)GE探傷儀特殊探頭 原德國(guó)KK

用于其他檢測(cè)應(yīng)用

超聲檢測(cè)的應(yīng)用范圍非常廣,我們經(jīng)常接到一些檢測(cè)應(yīng)用要求,有些檢測(cè)要求

至今為止都沒有方法實(shí)現(xiàn),我們收集了大量相關(guān)資料。這里列舉了一些例子:

豬的脂肪與肌肉檢測(cè),皮膚厚度的測(cè)量,眼睛的長(zhǎng)度測(cè)量,人體眼睛透鏡厚

度的檢測(cè),雞蛋殼的厚度測(cè)量,食物中固體的確定,金錠和金幣的檢測(cè),骨骼

康復(fù)治療的監(jiān)測(cè),液體的凝固和分離,啤酒,奶酪或水果的成熟度,微型電子

部件等的檢測(cè)。

我們致力于解決超聲領(lǐng)域各種應(yīng)用要求。因此,如果您有檢測(cè)要求,請(qǐng)務(wù)必

與我們聯(lián)系,我們將給你一個(gè)解決方案。

 

 

 

用于混凝土,石頭,和木材

① B0.05N,B0.05U…型

直 探 頭 , 5 0 K H Z , 接 觸 面 3 0 m m 和55mm,信號(hào)衰減弱,Lemo1接頭;只

能用于穿透式檢測(cè)。我們可以提供更高頻率探頭。

② B0.05NN型

直探頭,50KHZ,探頭通過增強(qiáng)桿增強(qiáng)超聲信號(hào),聲束傳播直徑大,Lemo1接

頭,只適用于穿透式軟質(zhì)材料的檢測(cè)(如木材)。

③ K0.1G,K0.25G型

100KHZ和250KHZ直探頭,接觸面直徑45mm,阻尼性好,例如脈沖持續(xù)時(shí)間

短,防水Lemo1接頭;在脈沖回波模式可用于精確測(cè)量超聲傳播時(shí)間。

③ B…SL,G0.5G型

250 kHz,500 kHz,1 MHz直探頭,各種晶片尺寸可選,Lemo1接頭。

 

 

 

用于陶瓷(如絕緣材料)

① K…G,K…N 型

高分辨率直探頭,提供各種頻率,晶片直徑24mm和10mm,耐磨接觸面和Lemo00接頭。

② IB…

2MHZ或4MHZ,Lemo00接頭,窄外殼設(shè)計(jì)使得探頭能進(jìn)入傘形絕緣體的縫隙中。

③ IW…B…

4MHZ 斜探頭,Lemo00接頭。入射角取決于缺陷位置和探頭耦合點(diǎn)。注釋:大部分標(biāo)準(zhǔn)探頭可以用于檢測(cè)大絕緣體,成形的陶瓷工件可使用高頻探頭(如AP-FM50.3.1)水浸法探傷。

 

 

用于簡(jiǎn)單復(fù)合纖維塑料

① G…NS,G…KS型

各種頻率沖擊波直探頭,晶片尺寸可選,通過螺紋固定保護(hù)膜或延遲塊,Lemo00接頭??梢愿鶕?jù)工件材料設(shè)計(jì)延遲塊,盡量消除界面波的影響(0界面探頭)。也適用于帶涂層工件的厚度測(cè)量。

② CA212,CA214

高分辨率直探頭,2MHZ,5MHZ,晶片尺寸10mm和24mm,Microdot接頭,通過螺紋固定保護(hù)膜或延遲塊,適用于帶涂層工件的厚度測(cè)量。

② G…N,G…KB

各種頻率沖擊波直探頭,晶片尺寸可選,Lemo00接頭,耐磨接觸面。

③ W70B2GT型

70º斜探頭,頻率為2MHZ,Lemo00接頭,適合檢測(cè)PE和PVC材料。65º斜探頭可用于檢測(cè)大厚度材料,WB70-1適合厚度更大的材料。

 

說明:

關(guān) 于 熱 塑 料 的 檢 測(cè) 請(qǐng) 參 見 特 別 版SD277資料,干耦合檢測(cè)相關(guān)信息見第14頁。

 

 

用于點(diǎn)焊檢測(cè)

① G20MN…型

高 分 辨 率 直 探 頭 , P V D F 晶 片 ,20MHZ,Microdot接頭和水延遲線,由可更換彈性保護(hù)膜密封,用于點(diǎn)焊檢測(cè);晶片尺寸取決于點(diǎn)焊焊核,可以用15MHZ探頭檢測(cè)更大厚度的點(diǎn)焊。更多詳情請(qǐng)看特別版SD272。

 

 

用于精密部件檢測(cè)

① G…MN型

各種頻率沖擊波探頭,晶片直徑可選,Microdot接頭,可更換延遲塊;尤其適用于點(diǎn)焊檢測(cè)。

② H…NA,H…KA,H…MA型

各種頻率,晶片尺寸可選的水浸沖擊波探頭,H…N,H…K帶2.5m探頭線,H…M帶1.5m探頭線,Lemo00接頭;尤其適合厚度測(cè)量。

③ H...KP...F, H...MP...F型

各種頻率,晶片尺寸,焦距可選的高分辨率水浸探頭,防水Lemo03接頭,并附有用于機(jī)械自動(dòng)檢測(cè)的噴水耦合噴嘴。

 

 

 

膠接層檢測(cè)

例如在滑動(dòng)軸承(白金屬鐵或鋁鐵),焊接頭(鐵與鐵或者銅與銅,銅表面包銀),搭接焊,離合器扭轉(zhuǎn)或制動(dòng)襯板粘結(jié)檢測(cè),關(guān)于更詳細(xì)的膠接檢測(cè)信息請(qǐng)查閱另外更詳細(xì)的資料SD288。然而,對(duì)于大部分檢測(cè)應(yīng)用要求,標(biāo)準(zhǔn) 探 頭 都 能 滿 足 。 如 有 特 殊 應(yīng) 用 需求,請(qǐng)聯(lián)系我們-我們將為您提供合適的探頭。

 

 

 

腐蝕檢測(cè)

DA312

雙晶探頭檢測(cè)的小厚度為0.6mm。

 

DA412

性能與DA312一樣,比DA312多對(duì)話功能,探頭里存儲(chǔ)了探頭參數(shù)。

 

DA311

相當(dāng)于標(biāo)準(zhǔn)探頭DA301,只是探頭接口在頂部。

 

DA303

2MHz雙晶探頭,用于測(cè)量聲能吸收或者聲散射嚴(yán)重的材料。

 

DA0,8G

雙晶探頭,用于聲衰減或者聲散射非常嚴(yán)重的材料(例如,鑄件或者塑料)。

 

DA408

與DA0,8G相同,只是比DA0,8G多對(duì)話功能,探頭里存儲(chǔ)了探頭參數(shù)。

 

DA317類型

雙晶探頭用于檢測(cè)厚度比較小并且表面溫度大為300℃的工件,該型號(hào)探頭的耦合穩(wěn)定性非常好。

 

DA319

與DA312相同,只是該型號(hào)能用于表面溫度高達(dá)250℃的工件。

 

HT400

雙 晶 探 頭 用 于 檢 測(cè) 表 面 溫 度 高 達(dá)550℃的工件,在室溫下可測(cè)量的小厚度為0.8mm。

 

DA305

雙晶探頭使用石英玻璃延遲塊,尤其適合于溫度非常高的工件檢測(cè)。

 

DA類型

一個(gè)非常小的筆型雙晶探頭,Microdot接 頭 , 可 以 檢 測(cè) 接 觸 面 積 非 常 小 的工件。

 

CA212,CA214

高 分 辨 率 直 探 頭 , 頻 率 為 2 M H z 或5MHz,通 過 螺 紋 固 定 延 遲 塊 或 保 護(hù)膜 ; 適 用 于 帶 A 掃 描 測(cè) 厚 儀 測(cè) 量 厚度值。

 

 

用于測(cè)試材料特性

例如利用縱波橫波聲速計(jì)算彈性模量。

 

G…N,G…KB,G…K型

各種頻率,晶片尺寸可選的沖擊波直探頭,耐磨損接觸面,Lemo00插頭。

 

G…K型為

Microdot接頭。適合測(cè)量縱波聲速。

 

SM-P…型

各種頻率,晶片尺寸可選的高分辨率直探頭,Microdot接頭,有一個(gè)磁環(huán)可將探頭固定在磁性材料上。尤其適合測(cè)量螺栓應(yīng)力。

 

K…NY,K…KY型

高分辨率橫波直探頭。多種頻率和晶片尺寸可選。Microdot接頭。適合測(cè)量橫波聲速,適用于精密測(cè)厚儀。

注釋:

如有需要,橫波和縱波晶片可以同時(shí)封裝在一個(gè)外殼里。例 如 可 以 用 來 確 定 硬 化 層 的 厚 度 和純度。

 

Z20m

20MHZ,窄脈沖水浸探頭,晶片尺寸5mm,1.5m探頭線,Lemo1接頭。適合用超聲背散射測(cè)量硬化層深度。

 

注釋:

硬化層和未硬化層之間的結(jié)構(gòu)突變是測(cè)量的先決條件。參見SD284。

 

 

Z10M

10MHZ窄脈沖水浸探頭,晶片尺寸5mm,1.5m探頭線,Lemo1接頭。適用于純度測(cè)量。

 

 

 

串聯(lián)式焊縫檢測(cè)

  •  W45SEK2/…型

45º斜探頭,雙晶片,兩晶片的聲軸交點(diǎn)在焊縫中心;適用于對(duì)接焊。

 

② D45N2…型

各種角度,頻率,晶片尺寸的斜探頭,適用于串聯(lián)式厚焊縫檢測(cè)。可用于機(jī)械自動(dòng)檢測(cè)。

 

 

 

高溫高壓或輻射環(huán)境下檢測(cè)

  •  W…B2GV,W…B4GV

45º,60º,70º斜探頭,頻率2MHZ,或4MHZ。Lemo00接頭。適合高溫超聲檢測(cè)。

 

② SEB4KV

4MHZ雙晶探頭,Lemo00接頭,與A掃描顯示的儀器連接可在高溫下用于厚度測(cè)量。

 

LWG854

防輻射探頭:如檢測(cè)滲水燃油桿。

 

③ H5KV型

5MHZ水浸探頭,防水Lemo03接頭,可在125º和60bar下工作。尤其適合檢測(cè)輸油管道連續(xù)厚度測(cè)量和缺陷檢測(cè),用特殊的表面保護(hù)層可用于腐蝕性材料檢測(cè)。

 

④ K5KVB4型

5MHZ直探頭,耐熱延遲塊,可用于高溫高壓下塑料部件的厚度測(cè)量。使用特殊延遲塊可用于腐蝕性材料檢測(cè)。

 

注釋:

高溫測(cè)厚探頭詳細(xì)資料見第11頁。

 

 

 

用于結(jié)構(gòu)復(fù)雜,空間接觸面積受限制的工件

 

SMWB

小晶片斜探頭,頻率4MHZ,5MHZ,6MHZ。晶片尺寸3mmx4mm,入射角可選,Microdot接頭。

 

② K…M…型

各頻率小晶片直探頭,(外徑2.5mm,高度3mm),Microdot接頭或固定細(xì)探頭線??商峁┙佑|面直徑為2mm的錐形延遲塊。

 

③ WSY型

90º爬波探頭,Lemo00接頭,用來檢測(cè)難以接近的位置。

 

注釋:

爬波在工件表面下沿直線傳播。它并不像表面波一樣沿著表面?zhèn)鞑?。所以有些用其他超聲波無法檢測(cè)到的缺陷可以用爬波檢測(cè)到。這種探頭必須很好的與材料表面貼合在一起才能產(chǎn)生爬波。

 

 

不用耦合劑(干耦合)檢測(cè)

如果在檢測(cè)工件表面不能使用液體耦合劑,某些情況下可以使用塑料來代替。

用塑料箔或塑料冒安裝在探頭前面保證探頭和檢測(cè)工件耦合。滾筒探頭,

B1KS,B1KE型帶有特殊接觸面可以在沒有耦合的情況下連續(xù)檢測(cè)。在這種情

況下,保證探頭和被檢物件表面的清潔是十分重要的,因?yàn)楣ぜ砻娴呐K物會(huì)

使探頭不能與工件耦合。這種技術(shù)尤其適合于塑料檢測(cè)。詳情請(qǐng)參見SD261。

 

 

 

用于粗晶材料的檢測(cè)(鑄件和奧氏體材料)

很多用于檢測(cè)粗晶材料的探頭都得到成功應(yīng)用,現(xiàn)在已成為標(biāo)準(zhǔn)探頭。

 

包括:

  •  K…S,K…SM

各頻率高分辨率直探頭,晶片尺寸34或28mm,Lemo1接頭,通過螺紋固定保護(hù)膜,延遲線和斜楔。

 

② WRY…,WSY…

45º,60º,70º縱波斜探頭,高分辨率,頻率2MHZ。WSY…頻率4MHZ,Lemo00接頭。

 

③ VRY…,VSY…

45º,60º,70º,2MHZ縱波雙晶斜探頭。VSY… 4MHZ,Lemo00接頭。如果您需要與上述標(biāo)準(zhǔn)探頭頻率、入射角、接頭型號(hào)不同的探頭,請(qǐng)聯(lián)系我們,我們將給您提供探頭,使其能滿足您的應(yīng)用需求。

 

 

 

 

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)

很多國(guó)家的標(biāo)準(zhǔn)都規(guī)定了探頭的技術(shù)參數(shù),常規(guī)檢測(cè)的檢測(cè)方法和規(guī)范。這些

標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)量和范圍都非常大,在此對(duì)于具體的探頭參數(shù)不一一列舉。

 

如果您需要符合特定標(biāo)準(zhǔn)的探頭,請(qǐng)聯(lián)系我們,如果您急需探頭的話,我

們建議您給我們提供基于標(biāo)準(zhǔn)的探頭技術(shù)資料。

 

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