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美國BH(原美國GE)貝克休斯水浸探頭

訂       金: 9500

訂  貨  量: ≥1 個

具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號可選

品牌貝克休斯

廠商性質代理商

所在地深圳市

更新時間:2024-04-24 16:12:00瀏覽次數(shù):551次

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產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 5千-1萬
應用領域 電子,冶金,航天,電氣,綜合
美國BH(原美國GE)貝克休斯水浸探頭 可裝配到水楔上,以更方便地耦合到多種表面,且其水中聲程可調。


美國BH(原美國GE)貝克休斯水浸探頭


用于浸入式方法的傳感器


水浸探頭的設計目的是與水楔配合使用,或者在被檢工件部分或全部浸入水中時,在水浸箱中進行檢測。這類探頭屬縱波探頭,但經(jīng)過設置后,使用Rexolite楔塊可以進行折射橫波檢測。


優(yōu)勢特性

其聲阻抗與水匹配

可裝配到水楔上,以更方便地耦合到多種表面,且其水中聲程可調(當被檢工件不能浸沒到水箱中時)。

線性掃查可以覆蓋30毫米到90毫米的距離,且檢測的準確性非常高。

耐腐蝕不銹鋼外殼

可保證在水下1米深的位置具有防水性


典型應用

對(鋼、鋁或其他材料制成的)薄板或管子進行檢測

對復合材料進行檢測,探測出分層和脫粘等缺陷

在線厚度測量

自動掃查



水浸探頭浸入式傳感器

•通過水耦合達到最佳耦合效果

•用于結構較規(guī)則工件

•常用于自動檢測系統(tǒng)

•耦合效果穩(wěn)定一致,檢測結果可重復性好

•可用于掃查架,噴水式檢測

•可以通過聚焦提高靈敏度和分辨力


聚焦水浸探頭入式傳感器

•點聚焦模式

•線聚焦模式


聚焦優(yōu)勢

提高對小缺陷的敏感檢測靈敏度



美國BH(原美國GE)貝克休斯水浸探頭


傳感器探頭選擇標準 -北美標準

根據(jù)美國標準制造的探頭,Baker Hughes Inspection Technologies 提供三種系列探頭: Alpha、Benchmark, 和 Gamma 系列。 所有探頭均根據(jù) ASTM E-1065標準進行測試,測試報告提供波形和頻譜等相關信息。


•建議用于對檢測分辨率有較高要求的檢測應用。

•適用于對分辨力要求高的厚度測量和近表面缺陷檢測等應用。

•脈沖非常短,達到目前探頭技術極限。

•靈敏度通常低于 Gamma 和 Benchmark 系列探頭。

•帶寬 - 典型的 6 dB 帶寬范圍為 50% 至 100%。

•典型的 Alpha 波形(右圖)通常只有一到兩個完整的回波周期


Benchmark 系列探頭功能

•晶片使用特殊BENCHMARK COMPOSITE 壓電復合材料。

•對高衰減材料的穿透性遠優(yōu)于傳統(tǒng)探頭。

•對粗晶粒金屬材料、碳纖維增強復合材料檢測具有高信噪比。

•回波脈沖短 - 分辨率通常優(yōu)于 Gamma 系列。

•靈敏度通常高于 Gamma 和 Alpha 系列探頭。

•高帶寬 - 典型的 6 dB 帶寬范圍為 60% 至 120%。

•晶片低聲阻抗提高了斜探頭、延遲探頭和水浸探頭的性能,與塑料和水的聲阻抗匹配效果好。


Gamma 系列功能

•常用探頭,適用于大多數(shù)日常檢測應用要求。

•中脈沖、中阻尼 – 靈敏度和分辨率的優(yōu)化組合。

•電子匹配性能確保較高的檢測靈敏度,牲犧一定分辨力

•中帶寬 - 典型的 6 dB 帶寬范圍為 30% 至 50%。

•典型的 Gamma 波形會顯示三到四個完整回波周期,取決于探頭頻率、探頭直徑和其他參數(shù)。



接觸式直探頭

應用

•結構規(guī)則簡單的大型工件檢測

•鍛件、坯料檢測

•板材、棒材、方型材

•容器、機器零部、外殼

•在高溫下用延遲塊檢測


功能特和優(yōu)勢


歐式型號具有可更換的軟保護膜

– 改善在不平坦或彎曲表面上的耦合

– 延長探頭使用壽命。

– 適用于 DGS 缺陷定量方法

– 提供高溫延遲塊

– Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接器,標準探頭連接器安裝在側面,頂部接口可選


美式型號具有可更換的軟保護膜

– 保護膜可改善不平坦或彎曲表面上的耦合。

– 定期更換軟保護膜可無限期延長探頭的使用壽命。

– 高溫延遲塊可在最高 400°F (200°C) 的表面上進行檢測。

– BNC 連接器,側面或頂部安裝


于接觸式檢測方法的探頭傳感器


直探頭-單晶

•工件形狀規(guī)則,檢測面相對光滑

•適用于平面或帶曲率接觸面

•缺陷或底面與接觸面平行

•用于檢測厚度較大的工件

•延遲塊探頭能提高近表面分辨力

•需要耦合劑

•日常檢測常用探頭


直探頭直通波束 - 雙晶片 (TR)

•通過隔聲層使發(fā)射與接收晶片獨立分開

•缺陷或底面與接觸面平行

•用于檢測厚度較小工件

•需要耦合劑

•日常檢測常用探頭


坡度波束斜探頭

•斜探頭晶片與楔塊一體或可拆卸

•橫波或縱波以特定角度入射

•常用的斜探頭為橫波探頭

•檢測與入射聲束垂直的缺陷

•有單晶與雙晶斜探頭

•需要耦合劑

•有時用于掃查器或自動掃查







奧林巴斯OLYMPUS超聲波管式探頭

奧林巴斯OLYMPUS超聲波管式探頭,奧林巴斯無損檢測(NDT)探頭是

美國GE探頭線

美國GE探頭線 CL 331 0058160 2 (6.5) 50

美國BH(原美國GE)貝克休斯水浸探頭

美國BH(原美國GE)貝克休斯水浸探頭 可裝配到水楔上,以更方便地耦合

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