廣東森德儀器有限公司

  • 白光干涉測(cè)厚儀 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號(hào):AM-7000系列
    AM-7000系列 白光干涉測(cè)厚儀可用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)別測(cè)量,以“面"的形式獲取表面3D形貌。
    型號(hào): AM-7000系列 品牌:優(yōu)可測(cè)所在地:廣州市 對(duì)比
    白光干涉測(cè)厚儀3D 形貌測(cè)量系統(tǒng)AM-7000系列 白光干涉測(cè)厚儀白光干涉儀
    2025/1/13 21:19:18100

會(huì)員登錄

×

請(qǐng)輸入賬號(hào)

請(qǐng)輸入密碼

=

請(qǐng)輸驗(yàn)證碼

收藏該商鋪

X
該信息已收藏!
標(biāo)簽:
保存成功

(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)

常用:

提示

X
您的留言已提交成功!我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~
撥打電話 產(chǎn)品分類
在線留言