日本大塚otsuka MINUK 3D顯微鏡 返回列表頁

日本大塚otsuka MINUK 3D顯微鏡 

MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦，可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置?？稍u價nｍ級的透明的異物?缺陷 一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息 無需對焦，可高速測量 可非破壞?非接觸?非侵入的測量 可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。可以非接觸、非破壞性、非侵入性地獲得nm級的形狀信息。通過一次拍照即可獲取深度方向的信息，可以將透明薄膜表面上肉眼不可見的劃痕和缺陷的橫截面形狀數(shù)值化實現(xiàn)可視化。肉眼無法看到的透明薄膜內(nèi)部的填充劑，通過一次拍照即可觀察到。此外，通過在測量后改變深度方向的焦點，可以識別到各個深度的填充劑。日本大塚otsuka MINUK 3D顯微鏡 

可攜帶至現(xiàn)場的手持式，可測量0.1μm單位，具有形狀的樣品也可非破壞的測量。 不論基材材質(zhì)、可測量其鍍膜。與桌上型光學(xué)膜厚儀相比，Smart膜厚儀在“現(xiàn)場"以非破壞式直接量測樣品，且可以量測特殊形狀樣品。與接觸式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不僅不會破壞您的樣品，也不會因為用戶不同而產(chǎn)生誤差且遠高于接觸式膜厚計的量測精度。與渦電流/電磁式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不需要制作檢量線，且可以量測非金屬基材并且得到絕對值！

ZETA電位·粒徑·分子量測試系統(tǒng)·ELSZneo

【ELSZneo使光散射的物性評價邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實現(xiàn)測量粒子濃度測定、微流變學(xué)測定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發(fā)的對應(yīng)高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進行測量。3μL就能測定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴大了生命科學(xué)領(lǐng)域的可能性。在0~90℃的寬溫度范圍內(nèi)，可以進行自動溫度梯度測量的變性相變溫度分析。