XY-754N紫外可見分光光度計自動波長掃描

       XY-754N紫外可見分光光度計自動波長掃描 

（一）XY-754N紫外可見分光光度計自動波長掃描 儀器特點

XY-754N紫外可見分光光度計采用高性能51微機(jī)控制系統(tǒng)，具備強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理和存儲能力，可保存多組標(biāo)準(zhǔn)曲線及測試數(shù)據(jù)，便于用戶隨時調(diào)用和對比分析。儀器配備智能自診斷功能，可實時監(jiān)測光路系統(tǒng)、電源模塊等關(guān)鍵部件的運行狀態(tài)，及時發(fā)現(xiàn)并提示異常，極大提高了設(shè)備的穩(wěn)定性和維護(hù)效率。

該儀器特別設(shè)計了斷電保護(hù)功能，有效避免突然停電導(dǎo)致的數(shù)據(jù)丟失問題，確保實驗數(shù)據(jù)的完整性與安全性。內(nèi)置專業(yè)化定量分析軟件，提供直觀的中文操作界面，用戶可通過向?qū)搅鞒梯p松完成光度分析、定量計算、動力學(xué)測試、光譜掃描、多波長測定及DNA/蛋白質(zhì)分析等多種應(yīng)用。

儀器支持多種外設(shè)連接，配備標(biāo)準(zhǔn)打印機(jī)接口和RS-232通訊接口，可方便地輸出測試報告和數(shù)據(jù)，實現(xiàn)信息化管理。其自動波長調(diào)節(jié)功能顯著提升了分析效率和準(zhǔn)確性，尤其適合大批量樣品的快速檢測。

技術(shù)參數(shù)

儀器型號：XY-754N

波長驅(qū)動：自動波長

波長范圍：200-1000nm

波長準(zhǔn)確度：±2nm

波長重復(fù)性：0.5nm

光譜帶寬：4nm

透射比準(zhǔn)確率：±0.5%T

透射比重復(fù)性：0.2%T

透射比范圍：0.0-200%T

光度范圍：-3-3A,0-200%T,0-9999C

雜散光：0.2%T@220nm/360nm