多片OLED器件IVL測量 返回列表頁

多片OLED器件IVL測量

主要應用于OLED材料和OLED屏體生產(chǎn)廠家，滿足客戶大批量的OLED器件的IVL特性和亮度特性測試需求。

OLED發(fā)光器件的IVL測試，如電流密度、電壓、電流效率、流明效率、1931色坐標、亮度、QE、光譜、電流、1976色坐標，并可選配底板加熱，進行預定的高溫下的對應測試。

多種機型可選，工位靈活配置。

系統(tǒng)特點

1.大批量器件的測試
系統(tǒng)配有多通道電路選擇器，可支持多達24片共96個發(fā)光點的OLED器件依次點亮測試（具體器件和發(fā)光點數(shù)量可定制）。測試前可預點亮所有發(fā)光點以確認器件是否均正常。

2.發(fā)光區(qū)域中心自動對位識別
工業(yè)視覺對位CCD自動識別發(fā)光點位置，不管是垂直測IVL還是旋轉器件測視角亮度，始終保證測量點對準發(fā)光區(qū)域中心。

3.大視角范圍測試
即使是3*3mm的發(fā)光點，在測視角時仍可以滿足75度視角以上的測試要求。同時工業(yè)視覺對位相機可修正旋轉時產(chǎn)生的測量點偏差，保證大視角下測量點依然對準器件發(fā)光中心。

4.高低溫溫控箱
可選配高低溫箱（溫控范圍：-40-100℃）

5.光譜儀的高速測量
為節(jié)省低輝度下的光譜儀測量時間，弗士達支持CS-2000A的高速Dll模式并對其優(yōu)化，以實現(xiàn)亮度大量程和快速測量的結合，以節(jié)省測量時間，提高機臺的測試效率