日本Topcon光譜輻射計 返回列表頁

　　日本Topcon光譜輻射計的產(chǎn)品概要：本產(chǎn)品量程極為寬廣，可測亮度可低至0.0005cd/m2，可用于評價體現(xiàn)黑畫面品質(zhì)的超高對比度；可測亮度高達5,000,000cd/m2，適用于評價超高亮度級LED的光學(xué)特性。通過搭載的FIX模式，實現(xiàn)了測定條件的自動化功能，從而大幅縮短了測定同一樣品時的連續(xù)測定時間。不僅僅可應(yīng)用于目前在市場上急劇擴張的LED背光模組的設(shè)計與研發(fā)，同樣適用于生產(chǎn)流水線上的高效率、高精度管理。

　　特點

　　?量程特別寬廣，寬至0.0005～5,000,000cd/m2。

　　?搭載FIX模式，可大幅縮短生產(chǎn)線上的連續(xù)測定時間(和本公司原有產(chǎn)品比較，可縮短1/2時間)

　　?提升了靈敏度的均衡性能，從而能輕松測定LED芯片。

　　?裝上照度接口（選配件）后，還能夠測定照度（lx）。

　　?光譜波寬、半波寬5nm

　　日本Topcon光譜輻射計的主要用途

　　?LED背光、LED照明器具的亮度?色度，以及色溫度特性，顯色性評價。

　　?LCD、OLED等，顯示器的亮度?色度，色溫度特性等所有光學(xué)特性評價指標(biāo)。

　　?車載頭燈、尾燈等、LED照明器具的亮度?色度的高精度測定。

　　?作為光學(xué)特性評價探頭，搭載于各類自動測量機臺上。

　　技術(shù)規(guī)格