ELDIM快速視角分析儀 返回列表頁

　　ELDIM快速視角分析儀的高性能傅里葉光學(xué)視角檢測儀ELDIM公司根據(jù)傅里葉光學(xué)原理制造視角分析儀有超過十年的歷史。我們所制造的系統(tǒng)在全視角和大光斑方面的能力逐年遞增，多譜段系列產(chǎn)品使用光學(xué)設(shè)計(jì)原理，視角范圍高達(dá)88度。

　　高效率該系統(tǒng)可獨(dú)立控制系統(tǒng)的孔徑張角和光斑大小。收集效率高，視角范圍達(dá)88度并同時(shí)具有*的精度。

　　高速分析這種全視圖圓錐圖是通過*的方位角分辨率來測量，只需幾秒即可測定亮度，測定輻射率也只需要幾分鐘。薄面和組分的全息圖在幾分鐘內(nèi)即可形成，而傳統(tǒng)的方法是使用測角計(jì)，往往需要幾天的時(shí)間。

　　高精度所有的ELDIM快速視角分析儀都遵循嚴(yán)格的加工過程、質(zhì)量控制，并經(jīng)過校正程序。每個(gè)CCD鏡頭的都具有較高的光譜靈敏度，通過分光光度方法控制每個(gè)濾波器的設(shè)計(jì)與光譜靈敏度。為了使系統(tǒng)達(dá)到高視角，我們研制了專門的工具和程序。

　　高可靠性ELDIM獨(dú)立加工系統(tǒng)的每個(gè)關(guān)鍵組成部件。之所以具有較高的性能，主要是由于采用了*的技術(shù)：磁流體拋光技術(shù)和拼接干涉方法等。為了降低直射光、衍生光的偏振，我們在表面涂覆不反光涂層，并在系統(tǒng)內(nèi)部實(shí)現(xiàn)光學(xué)校直。光學(xué)校直和膜層涂覆在無塵室內(nèi)進(jìn)行。所有系統(tǒng)在運(yùn)輸前幾天會進(jìn)行集中測試以確保質(zhì)量。