光譜儀掃描式的OLED器件壽命測試 返回列表頁

系統(tǒng)概述
硅光電壽命測試機(jī)臺提供了一種經(jīng)濟(jì)型的OLED器件壽命測試方式，但受限于硅光電對于可見光光譜的響應(yīng)曲線與CIE的人眼視覺函數(shù)不能*匹配，當(dāng)器件在壽命衰減過程中光譜形狀發(fā)生變化，或光譜波峰發(fā)生偏移時(shí)，其測得的相對亮度值就不在準(zhǔn)確。

為了能測出OLED器件和亮度絕對值、色度和光譜在衰減過程中的變化，弗士達(dá)公司開發(fā)了光譜儀掃描式的OLED器件壽命測試方案。將分光輻射亮度計(jì)安裝于XYZ自動(dòng)移動(dòng)軸上，分別掃描每個(gè)器件發(fā)光點(diǎn)的亮度色度和光譜數(shù)據(jù)，得到器件在壽命衰減過程中的亮度、色度和光譜隨時(shí)間的變化曲線。


系統(tǒng)組成
1.FS-GA3機(jī)臺，包括三軸直線移動(dòng)控制模塊
2.分光輻射亮度計(jì)
3.自動(dòng)視覺對位工業(yè)相機(jī)
4.多通道定電壓或定電流輸出壽命測試電源；
5.多通道電壓電流測量Keithley3706A；
6.多套器件測試治具，可選常溫或獨(dú)立溫控。
7.OLED器件壽命測量軟件