產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
SMD600離子污染測(cè)試儀是一個(gè)功能齊全的微處理器控制儀器,采用非破壞式的測(cè)試方法,適合用于檢測(cè)印制線路板和相關(guān)部件的離子含量。根據(jù)測(cè)試液中電阻的變化來測(cè)試離子的含量。利用加熱測(cè)試液至大約
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更新時(shí)間:2018-01-16 23:50:40瀏覽次數(shù):1888
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