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通孔鍍銅測厚儀

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更新時間:2017-07-17 19:20:15瀏覽次數(shù):2267

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產(chǎn)品簡介

美國UPA 通孔鍍銅測厚儀。四點電阻原理,可測量PCB孔內(nèi)鍍銅/表面銅箔厚度

詳細介紹

CD-8的運作是按照4點電阻測試原則。

DC電流的脈傳傳送至錐形探頭,然后再用這些脈沖統(tǒng)一傳送至要測試的孔中,探頭接觸器上的電伏直接通過測試孔中的銅柱,然后將其反饋至計算電阻的儀器上轉(zhuǎn)換成厚度并顯示。

 

 

CDP-111A 探頭:

板厚度: zui?。?st1:chmetcnv w:st="on" tcsc="0" numbertype="1" negative="False" hasspace="True" sourcevalue="15" unitname="英寸">15 英寸(0.38mm);zui大值:3/16"(5mm)

測試孔徑的大小:zui小:25 mils0.62mm;zui大:大于板厚 10 mils(0.25mm)

 

CPS-112 探頭:

測試孔徑的大小:zui?。?span>10 mils0.25mm;zui大:大于板厚 10 mils(0.25mm)

 

CDP-10 表面銅箔測試探頭

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