ELEMENT GD PLUS GD-MS 將具有*屬性的不同部件集成在單一儀器中,提供了的速度、靈敏度和準(zhǔn)確性。ELEMENT GD PLUS GD-MS 離子源和樣品夾的設(shè)計(jì)使換樣更容易,適于常規(guī)操作,提高樣品分析通量。
ELEMENT GD PLUS GD-MS 采用先進(jìn)的高分辨率扇形磁場(chǎng)技術(shù)。GD-MS 的主要限制是存在等離子體中基體元素及放電氣體與其它核素聚合物的干擾。因此,通過(guò)高分辨將分析物與大部分干擾分開是準(zhǔn)確測(cè)定的先決條件。質(zhì)量校準(zhǔn)的高度精密、準(zhǔn)確性對(duì)于快速分析、準(zhǔn)確跳峰而言至關(guān)重要。ELEMENT GD PLUS 具有全自動(dòng)質(zhì)量鎖定程序,因此質(zhì)量校準(zhǔn)將不再是分析時(shí)的常規(guī)步驟。
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