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                    Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀 詳細摘要: Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀*結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相... 產(chǎn)品型號: 所在地:北京市 更新時間:2025-10-15 參考價: 面議 在線留言
|  | 美國布魯克海文儀器公司 | 
| —— 銷售熱線 —— 18094238319 | 
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