目錄:牛津儀器(上海)有限公司>>Ultim>> Ultim® Extreme
Ultim Extreme 硅漂移探測器是高分辨率場發(fā)射掃描電鏡應用的一個突破,可提供遠遠超越傳統(tǒng)微米和納米分析的解決方案。
Ultim Extreme是Ultim Max系列中的一款無窗能譜,晶體面積100mm2,經(jīng)優(yōu)化設(shè)計來盡可能提高靈敏度和空間分辨率。它采用跑道型結(jié)構(gòu)設(shè)計,優(yōu)化高分辨率場發(fā)射掃描電鏡在低加速電壓和短工作距離下工作時的成像和EDS性能,使用Ultim Extreme,EDS的空間分辨率接近掃描電鏡的分辨率。