WITec 3D 拉曼成像系統(tǒng)，現(xiàn)在可配備良好的顆粒分析工具了ParticleScout顆粒分析工具可以對(duì)大面積樣品內(nèi)的顆粒進(jìn)行測(cè)量、分類(lèi)、分析、定量和識(shí)別。它不僅可對(duì)樣品進(jìn)行全貌分析，還能結(jié)合單顆粒的精準(zhǔn)化學(xué)表征來(lái)實(shí)現(xiàn)用戶(hù)自定義的目標(biāo)顆粒歸類(lèi)及搜索等針對(duì)性研究。測(cè)試結(jié)果能詳細(xì)呈現(xiàn)與樣品特性有關(guān)的綜合信息。ParticleScout 依托 WITec 拉曼成像系統(tǒng)的快速、高靈敏度和高分辨率優(yōu)勢(shì)，實(shí)現(xiàn)快速、無(wú)縫的顆粒分析。