FISCHERSCOPE XDL X射線測(cè)厚儀

菲希爾X射線熒光測(cè)試儀FISCHERSCOPE XDL 
        X射線熒光測(cè)試儀，可手動(dòng)或全自動(dòng)測(cè)量功能性鍍層(包括鉻層測(cè)厚、銅厚測(cè)量)、防腐蝕鍍層和大規(guī)模生產(chǎn)零部件
        X射線測(cè)厚儀帶有可編程的 X/Y臺(tái)和Z軸，用于自動(dòng)測(cè)量涂鍍層厚度和材料分析，如銅厚測(cè)量及鉻層測(cè)厚等

FISCHERSCOPE XDL X射線測(cè)厚儀特點(diǎn)

• 堅(jiān)固耐用的鍍層厚度測(cè)量設(shè)備，甚至可在較大的距離測(cè)量（DCM功能，范圍0-80 mm）工作
• 固定光圈和固定濾光鏡
• 用于1mm起大小的測(cè)量點(diǎn)
• 底部C型開槽的大容量測(cè)量艙
• 可編程的臺(tái)式設(shè)備，用于自動(dòng)測(cè)量
• 標(biāo)準(zhǔn)X射線管，比例計(jì)數(shù)器 

FISCHERSCOPE XDL X射線測(cè)厚儀典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零件
• 防腐鍍層和裝飾性鍍層，如鎳/銅上的鉻。鉻層測(cè)厚、銅厚測(cè)量
• 電鍍工業(yè)中電鍍液的分析
• 黃金、珠寶和鐘表工業(yè)

　　X射線測(cè)厚儀原理

　　XRAY測(cè)厚儀原理是根據(jù)XRAY穿透被測(cè)物時(shí)的強(qiáng)度衰減來進(jìn)行轉(zhuǎn)換測(cè)量厚度的，即測(cè)量被測(cè)鋼板所吸收的X射線量，根據(jù)該X射線的能量值，確定被測(cè)件的厚度。由X射線探測(cè)頭將接收到的信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，經(jīng)過前置放大器放大，再由測(cè)厚儀操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為顯示給人們以直觀的實(shí)際厚度信號(hào)。

　　X射線測(cè)厚儀適用范圍

　　XRAY測(cè)厚儀適用于生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè)，可以與軋機(jī)配套，應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中，XRAY測(cè)厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機(jī)生產(chǎn)過程中對(duì)板材厚度進(jìn)行自動(dòng)控制。

　　菲希爾電解測(cè)厚儀 - 用于庫侖電量分析的涂層厚度測(cè)量儀器。