FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD熒光測(cè)試儀

德國(guó)菲希爾FISCHERSCOPE? X-RAY XDV?-SDD高性能熒光測(cè)試儀

        配有可編程XY平臺(tái)和Z軸，可自動(dòng)測(cè)量超薄鍍層和分析痕量元素

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD熒光測(cè)試儀儀器特點(diǎn)

• 高級(jí)型號(hào)儀器，具有常見的所有功能
• 射線激發(fā)量的靈活性很大，激發(fā)量可根據(jù)測(cè)量面積大小和光譜組成而改變
• 通過(guò)硅漂移探測(cè)器，在 > 10萬(wàn)cps（每秒計(jì)數(shù)率） 的超高信號(hào)量下也可以正常工作，而不會(huì)出現(xiàn)能量分辨率的降低
• 極低的檢測(cè)下限和出色的測(cè)量重復(fù)度
• 帶有快速、可編程 XY 工作臺(tái)的自動(dòng)測(cè)量?jī)x器
• 大容量便于操作的測(cè)量艙

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD熒光測(cè)試儀典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 測(cè)量極薄的鍍層，例如應(yīng)用于電子和半導(dǎo)體行業(yè)中
• 痕量分析，例如根據(jù) RoHS、玩具標(biāo)準(zhǔn)、包裝標(biāo)準(zhǔn)對(duì)有害物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)
• 進(jìn)行高精度的黃金和貴金屬分析
• 光伏產(chǎn)業(yè)
• 測(cè)量 NiP 鍍層的厚度和成分

X射線測(cè)厚儀原理

　　XRAY測(cè)厚儀原理是根據(jù)XRAY穿透被測(cè)物時(shí)的強(qiáng)度衰減來(lái)進(jìn)行轉(zhuǎn)換測(cè)量厚度的，即測(cè)量被測(cè)鋼板所吸收的X射線量，根據(jù)該X射線的能量值，確定被測(cè)件的厚度。由X射線探測(cè)頭將接收到的信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，經(jīng)過(guò)前置放大器放大，再由測(cè)厚儀操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為顯示給人們以直觀的實(shí)際厚度信號(hào)。

　　X射線測(cè)厚儀適用范圍

　　XRAY測(cè)厚儀適用于生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè)，可以與軋機(jī)配套，應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中，XRAY測(cè)厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機(jī)生產(chǎn)過(guò)程中對(duì)板材厚度進(jìn)行自動(dòng)控制。

　　菲希爾電解測(cè)厚儀 - 用于庫(kù)侖電量分析的涂層厚度測(cè)量?jī)x器。