鎢燈絲掃描電鏡總發(fā)射電流和束斑都較大,抗干擾能力和穩(wěn)定性都較好,低真空下可以對(duì)不導(dǎo)電樣品無(wú)荷電成像,可用于形貌觀察、顯微結(jié)構(gòu)分析、斷口形貌分析,在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機(jī)械、化學(xué)、化工、物理、電子、生物、醫(yī)學(xué)、半導(dǎo)體等領(lǐng)域都有廣泛的用途。
鎢燈絲掃描電鏡對(duì)送檢樣品的要求有:
1、送檢樣品必須為干燥固體,塊狀、片狀、纖維狀及粉末狀均可。
2、送檢樣品應(yīng)有一定的化學(xué)、物理穩(wěn)定性,在真空中及電子束轟擊下不會(huì)揮發(fā)或變形;無(wú)磁性、放射性和腐蝕性。
3、含水分較多的生物軟組織的樣品應(yīng)制備成干燥樣品,用戶可以自行完成冷凍干燥或臨界點(diǎn)干燥處理,也可以自行完成臨界點(diǎn)干燥之前的固定、清洗、脫水及用醋酸(異)戊酯置換等處理,最后可以到本室進(jìn)行臨界點(diǎn)干燥處理。
4、需觀察圖像的導(dǎo)電性不佳的樣品干燥后應(yīng)鍍導(dǎo)電膜,該步驟可以到本室進(jìn)行。
5、一般情況下,樣品盡量小塊些(≤ 10 x 10 x 5 mm較方便)。粉末樣品每個(gè)需1g左右。納米樣品一般需超聲波分散,并鍍導(dǎo)電膜。
本公司提供的日立全新一代高分辨鎢燈絲掃描電鏡SU3800采用全新的HexBias偏壓技術(shù),使其低電壓性能大大提升,同時(shí)升級(jí)的高靈敏度背散射探測(cè)器和可變壓力探測(cè)器使得SU3800的觀察能力進(jìn)一步提升。SU3800還增加了IFT燈絲監(jiān)控技術(shù)、全新的光鏡導(dǎo)航、集成的能譜以及報(bào)告導(dǎo)出等功能,使其操作也變得更為簡(jiǎn)單。
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