ELITE 系統(tǒng) 賽默飛（原FEI）鎖相紅外熱成像系統(tǒng)
- 公司名稱(chēng) 賽默飛世爾科技（中國(guó)）有限公司
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號(hào) ELITE 系統(tǒng)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/1/20 16:09:43
- 訪問(wèn)次數(shù) 106
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欲了解更多信息，請(qǐng)瀏覽公司網(wǎng)站：www.thermofisher.com 賽默飛世爾科技中國(guó)簡(jiǎn)介賽默飛世爾科技進(jìn)入中國(guó)發(fā)展已超過(guò)35年，在中國(guó)的總部設(shè)于上海，并在北京、廣州、香港、成都、沈陽(yáng)、西安、南京、武漢、昆明等地設(shè)立了分公司，員工人數(shù)約為5000名。我們的產(chǎn)品主要包括分析儀器、實(shí)驗(yàn)室設(shè)備、試劑、耗材和軟件等，提供實(shí)驗(yàn)室綜合解決方案，為各行各業(yè)的客戶(hù)服務(wù)。為了滿(mǎn)足中國(guó)市場(chǎng)的需求，現(xiàn)有7家工廠分別在上海、北京、蘇州和廣州等地運(yùn)營(yíng)。我們?cè)谌珖?guó)還設(shè)立了8個(gè)應(yīng)用開(kāi)發(fā)中心以及示范實(shí)驗(yàn)室，將世界級(jí)的前沿技術(shù)和產(chǎn)品帶給中國(guó)客戶(hù)，并提供應(yīng)用開(kāi)發(fā)與培訓(xùn)等多項(xiàng)服務(wù)；擁位于上海的中國(guó)創(chuàng)新中心，擁有有100多位專(zhuān)業(yè)研究人員和工程師及70多項(xiàng)專(zhuān)利。創(chuàng)新中心專(zhuān)注于針對(duì)垂直市場(chǎng)的產(chǎn)品研究和開(kāi)發(fā)，結(jié)合中國(guó)市場(chǎng)的需求和國(guó)外先進(jìn)技術(shù)，研發(fā)適合中國(guó)的技術(shù)和產(chǎn)品；我們擁有遍布全國(guó)的維修服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)和特別成立的中國(guó)技術(shù)培訓(xùn)團(tuán)隊(duì)，在全國(guó)有超過(guò)2600名專(zhuān)業(yè)人員直接為客戶(hù)提供服務(wù)。我們致力于幫助客戶(hù)使世界更健康、更清潔、更安全。
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科學(xué)儀器
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類(lèi) | 場(chǎng)發(fā)射 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工 |
隨著“超越摩爾定律”技術(shù)的普及，封裝和組裝相關(guān)缺陷變得越來(lái)越難以識(shí)別?；ミB更加精細(xì)、更加復(fù)雜；芯片和封裝被堆疊并平鋪為復(fù)雜結(jié)構(gòu)。焊點(diǎn)間距更小，而基板則采用更高的圖案密度和嵌入式組件。缺陷在不斷增加，缺陷檢測(cè)則變得更加困難。
通過(guò)使用具有最高靈敏度的高分辨率鎖相熱成像 (LIT)，Thermo Scientific™ ELITE™ 鎖相紅外熱成像系統(tǒng)系統(tǒng)為各種缺陷類(lèi)型的通孔封裝缺陷、片上缺陷甚至板載電氣缺陷的定位提供了一套重要解決方案，這些缺陷包括電源或線路短路、ESD 缺陷、電流泄漏、氧化傷害、缺陷晶體管和二極管、器件閂鎖以及電阻性開(kāi)路。
ELITE 是第一款可為二維和三維器件提供動(dòng)態(tài)無(wú)損實(shí)時(shí) LIT 的集成系統(tǒng)。ELITE 系統(tǒng)的設(shè)計(jì)采用專(zhuān)有的高靈敏度 InSb 攝像頭、定制光學(xué)器件和高級(jí)算法，具有出眾的性能，并可以在最短時(shí)間內(nèi)獲得結(jié)果，通過(guò)為失效分析工程師提供根本原因分析所需的關(guān)鍵信息，有效縮短分析學(xué)習(xí)的周期。
另外，由于具有所有無(wú)損技術(shù)中最高的熱靈敏度，Thermo Scientific™ ELITE™ 鎖相紅外熱成像系統(tǒng)系統(tǒng)能夠檢測(cè)具挑戰(zhàn)性的缺陷，無(wú)需開(kāi)封檢查或從封裝中取出芯片，甚至無(wú)需對(duì) IC 器件進(jìn)行剝層，因而消除了使用有損方法時(shí)意外遺漏故障的風(fēng)險(xiǎn)。
此外，ELITE 系統(tǒng)可與其他無(wú)損技術(shù)（例如掃描聲學(xué)顯微鏡 (SAM) 或二維和三維 X 射線技術(shù)）相結(jié)合，通過(guò)傳遞故障位置的精確 x、 y 和 z 坐標(biāo)，加快獲得結(jié)果的速度并提高成功率，從而在需要深度信息或存在微小特征時(shí)顯著縮小 X 射線和 SAM 的搜索半徑并縮短檢查時(shí)間。ELITE 系統(tǒng)還提供配備固體浸沒(méi)透鏡 (SIL) 和 S-LSM 選項(xiàng)的高分辨率光學(xué)器件，可實(shí)現(xiàn)很高水平的分辨率和圖像質(zhì)量。
主要優(yōu)勢(shì)：
無(wú)損，無(wú)需開(kāi)封檢查，無(wú)需逆向處理，沒(méi)有遺漏或損害缺陷證據(jù)的風(fēng)險(xiǎn)
快速識(shí)別 精確定位集成電路板上的缺陷元件
定位缺陷在x-y方向有微米精度，深度定位精度 20 μm
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