光學(xué)表面瑕疵檢測廣泛使用于布匹瑕疵檢測、工件表面質(zhì)量檢測、航空航天領(lǐng)域等。傳統(tǒng)的算法對規(guī)則缺陷以及場景比較簡單的場合,能夠很好工作,但是對特征不明顯的、形狀多樣、場景比較混亂的場合,則不再適用。近年來,基于深度學(xué)習(xí)的識別算法越來越成熟,把深度學(xué)習(xí)算法應(yīng)用到工業(yè)場合中。
表面疵病作為一種加工過程中人為造成的微觀局部缺陷,對光學(xué)元件的表面性能有著輕微的影響,從而有可能造成光學(xué)儀器運行錯誤等嚴重的后果??傊?光學(xué)元件的表面疵病會對光學(xué)系統(tǒng)性能產(chǎn)生危害,其根本原因在于光的散射特性。
光學(xué)表面瑕疵檢測可避免以下危害:
(1)光束的質(zhì)量下降。元件表面缺陷處會產(chǎn)生光的散射效應(yīng),使得光束在通過缺陷后能量被大量消耗,從而降低了光束的質(zhì)量。
(2)缺陷的熱效應(yīng)現(xiàn)象。由于表面缺陷所處區(qū)域比其他區(qū)域容易吸收更多的能量,產(chǎn)生的熱效應(yīng)現(xiàn)象可能會使元件疵病發(fā)生局部變形、破壞膜層等,進而危害整個光學(xué)系統(tǒng)。
(3)損壞所處系統(tǒng)中其他光學(xué)元件。激光系統(tǒng)中,在強能量激光束的照射下,元件表面疵病產(chǎn)生的散射光會被系統(tǒng)內(nèi)的其他光學(xué)元件吸收,從而造成元件的受光不均勻,當(dāng)達到光學(xué)元件材料的損傷閥值時,會使傳播光線的質(zhì)量受到影響,光學(xué)元件損壞,更有可能造成光學(xué)系統(tǒng)被嚴重的破壞。
(4)疵病會影響視場清潔。當(dāng)光學(xué)元件上有過多的疵病時,會影響微觀的美觀度,另外,疵病還會殘留微小的灰塵、微生物、拋光粉等雜質(zhì),這將造成元件被腐蝕、生霉、生霧,會明顯影響元件的基本性能。
相關(guān)產(chǎn)品
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負責(zé),不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,并自負版權(quán)等法律責(zé)任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。