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Exicor GEN系列 光學(xué)玻璃應(yīng)力測(cè)量

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北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司成立于 2010 年,專業(yè)代理歐美(德國(guó)、瑞士、美國(guó)、波蘭等)高精度的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備,致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學(xué)檢測(cè)解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的服務(wù)。主要包括:
光學(xué)檢測(cè)產(chǎn)品:應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等測(cè)量系統(tǒng)/剪切干涉儀/非接觸式測(cè)厚儀/測(cè)角儀/可調(diào)相位延遲波片等;
激光檢測(cè)產(chǎn)品:激光功率計(jì)、能量計(jì)及光束質(zhì)量分析儀等;
                         集成系統(tǒng)所需的激光器、步進(jìn)位移平臺(tái)、偏振光轉(zhuǎn)換器等
                         顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動(dòng)載物臺(tái)、波片進(jìn)片機(jī)、高速相機(jī)ICCD、像增強(qiáng)器300ps門控時(shí)間、FLIM、高精度脈沖延時(shí)器等。
                         值得一提的是,近年來公司科研團(tuán)隊(duì)自主研發(fā)PCI弱吸收測(cè)量?jī)x,CRD光腔衰蕩法高反測(cè)量?jī)x,偏心曲率測(cè)量?jī)x等產(chǎn)品,為今后的發(fā)展壯大奠定了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。

測(cè)角儀,應(yīng)力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測(cè)設(shè)備,波片相位延遲,剪切

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,能源,電子,交通

LCD材料的超低階雙折射測(cè)量

用于LCD的Exicor GEN系列

Hinds Instruments 公司的大尺寸高精應(yīng)力雙折射分布測(cè)量系統(tǒng)用于LED液晶玻璃基板的應(yīng)力分布測(cè)量。產(chǎn)品測(cè)量精度*(0.005 nm),且定制平臺(tái)掃描,用于LED液晶面板尺寸(Exicor Gen 6 - 1550 mm x 1850 mm / Exicor Gen 5  1150 mm x 1350 mm )光學(xué)玻璃應(yīng)力測(cè)量,大型液晶基板應(yīng)力分布測(cè)量,應(yīng)力測(cè)量。如用于LCD(高達(dá)1500mm x 1500mm)的光學(xué)材料。

光學(xué)玻璃應(yīng)力測(cè)量重要特點(diǎn):

•占地小 - 大限度地減少設(shè)備所需的工廠空間

•平臺(tái)設(shè)計(jì) -設(shè)計(jì)使可測(cè)量面積盡可能大

•強(qiáng)大的自動(dòng)化 - 質(zhì)量階段和硬件正常運(yùn)行時(shí)間

•穩(wěn)定的服務(wù)支持 - 各地的支持中心和備件中心

•符合工業(yè)標(biāo)準(zhǔn) - 符合S2 / S8和CE標(biāo)準(zhǔn)

•靈活的軟件 - 優(yōu)化的軟件。 自定義功能和DLL接口可用

•低維護(hù)設(shè)計(jì) - 易于維修的組件

•負(fù)載輔助 - 傾斜階段選項(xiàng)


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