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光束質(zhì)量分析儀的相關(guān)應(yīng)用知識了解下
光束質(zhì)量分析儀是一款符合標準的測量設(shè)備。測量過程中，固定的透鏡和高速的自動光學導軌使得相機可以快速的采集到從近場到遠場多個位置的激光光斑，測量、傳輸以及激光功率衰減全部由軟件自動控制。在工作過程中造束腰透鏡和相機位置固定，通過兩片反光鏡在光學導軌上的自動移動，相機就可以的捕捉到從近場到遠場不同位置的激光光斑，再通過軟件進行數(shù)據(jù)分析與計算，從而得到M2值、發(fā)散角、束腰大小等參數(shù)。
光束質(zhì)量測量的重要性
在激光材料加工、印刷、切割、數(shù)字信息讀寫系統(tǒng)等應(yīng)用中，M2是一個重要的因素，因為光束的輪廓和強度分布可以決定材料的整體處理性能或每一卷的數(shù)據(jù)存儲能力。在某些場合，特別是大功率場合，通常用光束參數(shù)乘積(BPP)代替M2，即光束束腰處的光束半徑和遠場光束發(fā)散角的乘積。M2因子也包括波長，如下公式所示。光束質(zhì)量是一個衍射極限的高斯光束，它的M2等于1。
BPP = ∗ 0
光束輪廓顯示了光束的空間特*，包括光束的傳播、光束質(zhì)量和光束的實用性。另外，它還可顯示如何地調(diào)整和修改激光器的輸出。在搭建光路或?qū)鈱W系統(tǒng)進行校準時，如果光束輪廓未知，那么將可能得到不可靠的結(jié)果。
光束分析儀的應(yīng)用領(lǐng)域：
1．激光制造工業(yè)
激光二極管和VCSELs都是半導體激光器，有著比近軸光束更大的發(fā)散角。從典型的激光腔中檢測這類激光不容易。通常重要參數(shù)包括：功率輸入-光強輸出曲線-稱為LI或LIV曲線、光束的光譜以及發(fā)散角。由于半導體激光器的發(fā)散角較大，需要用透鏡聚焦得到可用光束。光束形狀和發(fā)散特點可以得出光學設(shè)計中設(shè)備的工作情況。
2．制圖和印刷工業(yè)
激光印刷工業(yè)利用光束分析儀來設(shè)計和制造激光打印機的核心部分 — 激光掃描單元（LSU）。
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