Langmuir膜分析儀(配置顯微鏡窗口)
1. 產(chǎn)品簡(jiǎn)介
KSV NIMA為瑞典百歐林科技有限公司旗下的子品牌之一,主要經(jīng)營(yíng)方向?yàn)閱畏肿訉颖∧さ臉?gòu)建與表征工具。Langmuir膜分析儀(配置顯微鏡窗口)為KSV NIMA自主研發(fā)的一款單分子層膜的制備和表征設(shè)備,適用于制備、改性和研究Langmuir膜。
與標(biāo)準(zhǔn)槽體的尺寸相同,槽體中配備一個(gè)藍(lán)寶石窗口,可通過(guò)波長(zhǎng)大于200 nm的光線(適用于可見(jiàn)光或紫外光譜),便于觀察表界面的情況。該系列共有五款產(chǎn)品,對(duì)于某些尺寸的槽體,可配置帶有玻璃窗口的倒置顯微鏡。
2. 工作原理
位于氣-液或液-液界面處不可溶的功能性分子、納米顆粒、納米線或微粒所形成的單分子層可定義為Langmuir膜。這些分子能夠在界面處自由移動(dòng),具有較強(qiáng)的流動(dòng)性,易于控制其堆積密度,研究單分子層的行為。將材料沉積在淺池(稱頂槽)中的水亞相上,可以得到Langmuir膜。在滑障的作用下,單分子層可以被壓縮。表面壓力即堆積密度可以通過(guò)Langmuir膜分析儀的壓力傳感器進(jìn)行控制。
在進(jìn)行典型的等溫壓縮測(cè)試時(shí),單分子層先從二維的氣相(G)轉(zhuǎn)變到液相(L)zui后形成有序的固相(S)。在氣相中,分子間的相互作用力比較弱;當(dāng)表面積減小,分子間的堆積更為緊密,并開(kāi)始發(fā)生相互作用;在固相時(shí),分子的堆積是有序的,導(dǎo)致表面壓迅速增大。當(dāng)表面壓達(dá)到zui大值即塌縮點(diǎn)后,單分子層的堆積不再可控。
圖1 單分子層膜狀態(tài)受表面壓力增加的影響
3. 技術(shù)參數(shù)
3.1 小型Langmuir膜分析儀,含顯微鏡模塊(KN 3001)
- 槽體材質(zhì):固體燒結(jié),無(wú)孔PTFE材質(zhì),快速限位孔固定,可拆卸清洗或更換為多種其他功能性槽體,含雙側(cè)導(dǎo)流槽,內(nèi)置水浴系統(tǒng)接口
- 框體特性:33 mm槽體高度調(diào)節(jié),天平可XYZ三維定位調(diào)節(jié),含安全限位開(kāi)關(guān),含攪拌、pH測(cè)量、樣品注射輔助系統(tǒng)等接口
- 系統(tǒng)設(shè)計(jì):模塊化設(shè)計(jì),可獨(dú)立進(jìn)行表面壓測(cè)量和鍍膜實(shí)驗(yàn),可原位進(jìn)行表面紅外、表面電勢(shì)、布魯斯特角圖像、界面剪切等測(cè)試
- 槽體表面積: 98 cm2
- 槽體內(nèi)部尺寸:195 x 50 x 4 mm(長(zhǎng) x 寬 x高)
- 窗口直徑:20 mm
- 滑障速度: 0.1-270 mm/min
- 滑障速度精度: 0.1 mm/min
- 測(cè)量范圍:0-150 mN/m
- 天平zui大負(fù)荷: 1 g
- 天平定位調(diào)節(jié): 360° x 110mm x 45 mm(XYZ)
- 傳感精度: 4 μN/m
- 表面壓測(cè)試元件: 標(biāo)準(zhǔn)Wilhelmy白金板,W19.62 x H 10mm,符合EN 14370:2004標(biāo)準(zhǔn)。其他選項(xiàng):Wilhelmy白金板(W10 x H10 mm)、液/液Wilhelmy鉑金板(W19.62 x H7 mm)、Wilhelmy紙板、白金棒
- Langmuir測(cè)試槽亞相容積:39 ml
- 電源: 100...240 VAC
- 頻率: 50...60 Hz
3.2中型Langmuir膜分析儀,含顯微鏡窗口(KN 3005)
- 槽體材質(zhì):固體燒結(jié),無(wú)孔PTFE材質(zhì),快速限位孔固定,可拆卸清洗或更換為多種其他功能性槽體,含雙側(cè)導(dǎo)流槽,內(nèi)置水浴系統(tǒng)接口
- 框體特性:33 mm槽體高度調(diào)節(jié),天平可XYZ三維定位調(diào)節(jié),含安全限位開(kāi)關(guān),含攪拌、pH測(cè)量、樣品注射輔助系統(tǒng)等接口
- 系統(tǒng)設(shè)計(jì):模塊化設(shè)計(jì),可獨(dú)立進(jìn)行表面壓測(cè)量和鍍膜實(shí)驗(yàn),可原位進(jìn)行表面紅外、表面電勢(shì)、布魯斯特角圖像、界面剪切等測(cè)試
- 槽體表面積: 273 cm2
- 槽體內(nèi)部尺寸:364 x 75 x 4 mm(長(zhǎng) x 寬 x高)
- 窗口直徑:20 mm
- 滑障速度: 0.1-270 mm/min
- 滑障速度精度: 0.1 mm/min
- 測(cè)量范圍:0-150 mN/m
- 天平zui大負(fù)荷: 1 g
- 天平定位調(diào)節(jié): 360° x 110mm x 45 mm(XYZ)
- 傳感精度: 4 μN/m
- 表面壓測(cè)試元件: 標(biāo)準(zhǔn)Wilhelmy白金板,W19.62 x H 10mm,符合EN 14370:2004標(biāo)準(zhǔn)。其他選項(xiàng):Wilhelmy白金板(W10 x H10 mm)、液/液Wilhelmy鉑金板(W19.62 x H7 mm)、Wilhelmy紙板、白金棒
- Langmuir測(cè)試槽亞相容積:109 ml
- 電源: 100...240 VAC
- 頻率: 50...60 Hz
3.3中型Langmuir膜分析儀,含倒置顯微鏡窗口(KN 3003)
- 槽體材質(zhì):固體燒結(jié),無(wú)孔PTFE材質(zhì),快速限位孔固定,可拆卸清洗或更換為多種其他功能性槽體,含雙側(cè)導(dǎo)流槽,內(nèi)置水浴系統(tǒng)接口
- 框體特性:33 mm槽體高度調(diào)節(jié),天平可XYZ三維定位調(diào)節(jié),含安全限位開(kāi)關(guān),含攪拌、pH測(cè)量、樣品注射輔助系統(tǒng)等接口
- 系統(tǒng)設(shè)計(jì):模塊化設(shè)計(jì),可獨(dú)立進(jìn)行表面壓測(cè)量和鍍膜實(shí)驗(yàn),可原位進(jìn)行表面紅外、表面電勢(shì)、布魯斯特角圖像、界面剪切等測(cè)試
- 槽體表面積: 273 cm2
- 槽體內(nèi)部尺寸:364 x 75 x 4 mm(長(zhǎng) x 寬 x高)
- 窗口直徑:27 mm
- 滑障速度: 0.1-270 mm/min
- 滑障速度精度: 0.1 mm/min
- 測(cè)量范圍:0-150 mN/m
- 天平zui大負(fù)荷: 1 g
- 天平定位調(diào)節(jié): 360° x 110mm x 45 mm(XYZ)
- 傳感精度: 4 μN/m
- 表面壓測(cè)試元件: 標(biāo)準(zhǔn)Wilhelmy白金板,W19.62 x H 10mm,符合EN 14370:2004標(biāo)準(zhǔn)。其他選項(xiàng):Wilhelmy白金板(W10 x H10 mm)、液/液Wilhelmy鉑金板(W19.62 x H7 mm)、Wilhelmy紙板、白金棒
- Langmuir測(cè)試槽亞相容積:109 ml
- 電源: 100...240 VAC
- 頻率: 50...60 Hz
3.4高壓縮比Langmuir膜分析儀,含顯微鏡窗口(KN 3002)
- 槽體材質(zhì):固體燒結(jié),無(wú)孔PTFE材質(zhì),快速限位孔固定,可拆卸清洗或更換為多種其他功能性槽體,含雙側(cè)導(dǎo)流槽,內(nèi)置水浴系統(tǒng)接口
- 框體特性:33 mm槽體高度調(diào)節(jié),天平可XYZ三維定位調(diào)節(jié),含安全限位開(kāi)關(guān),含攪拌、pH測(cè)量、樣品注射輔助系統(tǒng)等接口
- 系統(tǒng)設(shè)計(jì):模塊化設(shè)計(jì),可獨(dú)立進(jìn)行表面壓測(cè)量和鍍膜實(shí)驗(yàn),可原位進(jìn)行表面紅外、表面電勢(shì)、布魯斯特角圖像、界面剪切等測(cè)試
- 槽體表面積: 587 cm2
- 槽體內(nèi)部尺寸:782 x 75 x 5 mm(長(zhǎng) x 寬 x高)
- 窗口直徑:20 mm
- 滑障速度: 0.1-270 mm/min
- 滑障速度精度: 0.1 mm/min
- 測(cè)量范圍:0-150 mN/m
- 天平zui大負(fù)荷: 1 g
- 天平定位調(diào)節(jié): 360° x 110mm x 45 mm(XYZ)
- 傳感精度: 4 μN/m
- 表面壓測(cè)試元件: 標(biāo)準(zhǔn)Wilhelmy白金板,W19.62 x H 10mm,符合EN 14370:2004標(biāo)準(zhǔn)。其他選項(xiàng):Wilhelmy白金板(W10 x H10 mm)、液/液Wilhelmy鉑金板(W19.62 x H7 mm)、Wilhelmy紙板、白金棒
- Langmuir測(cè)試槽亞相容積:293 ml
- 電源: 100...240 VAC
- 頻率: 50...60 Hz
3.5高壓縮比Langmuir膜分析儀,含倒置顯微鏡窗口(KN 3004)
- 槽體材質(zhì):固體燒結(jié),無(wú)孔PTFE材質(zhì),快速限位孔固定,可拆卸清洗或更換為多種其他功能性槽體,含雙側(cè)導(dǎo)流槽,內(nèi)置水浴系統(tǒng)接口
- 框體特性:33 mm槽體高度調(diào)節(jié),天平可XYZ三維定位調(diào)節(jié),含安全限位開(kāi)關(guān),含攪拌、pH測(cè)量、樣品注射輔助系統(tǒng)等接口
- 系統(tǒng)設(shè)計(jì):模塊化設(shè)計(jì),可獨(dú)立進(jìn)行表面壓測(cè)量和鍍膜實(shí)驗(yàn),可原位進(jìn)行表面紅外、表面電勢(shì)、布魯斯特角圖像、界面剪切等測(cè)試
- 槽體表面積: 587 cm2
- 槽體內(nèi)部尺寸:782 x 75 x 5 mm(長(zhǎng) x 寬 x高)
- 窗口直徑:27 mm
- 滑障速度: 0.1-270 mm/min
- 滑障速度精度: 0.1 mm/min
- 測(cè)量范圍:0-150 mN/m
- 天平zui大負(fù)荷: 1 g
- 天平定位調(diào)節(jié): 360° x 110mm x 45 mm(XYZ)
- 傳感精度: 4 μN/m
- 表面壓測(cè)試元件: 標(biāo)準(zhǔn)Wilhelmy白金板,W19.62 x H 10mm,符合EN 14370:2004標(biāo)準(zhǔn)。其他選項(xiàng):Wilhelmy白金板(W10 x H10 mm)、液/液Wilhelmy鉑金板(W19.62 x H7 mm)、Wilhelmy紙板、白金棒
- Langmuir測(cè)試槽亞相容積:109 ml
- 電源: 100...240 VAC
- 頻率: 50...60 Hz
4. 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)及亮點(diǎn)
4.1 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
- 專為極度精確測(cè)試設(shè)計(jì)的超敏感表面張力傳感器。鉑金屬板,鉑金屬棒及紙板都可用作探針以滿足不同的需求。
- 開(kāi)放性的設(shè)計(jì)便于槽體在框架上的放置及不同槽體的快速更換,同時(shí)便于清洗槽體表面。
- 當(dāng)需要清潔或更換新槽體時(shí),槽體在框架上的拆卸/放置極其方便。
- Langmuir槽體是由便于清潔、可靠耐久的整塊純聚四氟乙烯構(gòu)成,其*的設(shè)計(jì)能夠防止槽體發(fā)生泄漏,同時(shí)避免了使用膠水及其他封裝材料造成的潛在污染。
- 滑障由親水性的迭爾林聚甲醛樹(shù)酯制成,可提高單分子層的穩(wěn)定性??筛鶕?jù)客戶需要提供疏水性的聚四氟乙烯壓縮滑障。穩(wěn)健的金屬構(gòu)架能夠防止滑障隨著時(shí)間的推移而變形。
- 對(duì)稱滑障壓縮為標(biāo)準(zhǔn)的均勻壓縮方法,但任意儀器均可實(shí)現(xiàn)單一滑障壓縮。
- 通過(guò)外部循環(huán)水浴對(duì)鋁制底板進(jìn)行加熱/冷卻,以控制亞相的溫度(水浴為分開(kāi)銷(xiāo)售)。
- 通過(guò)調(diào)整框架撐腳,可快速而準(zhǔn)確地校準(zhǔn)槽體水平。當(dāng)需要放置顯微鏡時(shí),框架撐腳也可很容易地從槽體上拆除。
4.2 產(chǎn)品亮點(diǎn)
4.2.1 聯(lián)用或相關(guān)分析技術(shù)
本產(chǎn)品可與界面紅外反射吸收光譜儀(PM-IRRAS),布魯斯特角顯微鏡(BAM),界面剪切流變儀(ISR),熒光顯微鏡,X射線等光學(xué)表征技術(shù)聯(lián)用或?qū)悠愤M(jìn)行后續(xù)分析。具體如:
- 紅外反射吸收光譜(KSV NIMA PM-IRRAS)
- 石英晶體微天平(Q-Sense QCM-D)
- 表面等離子共振儀
- 電導(dǎo)率測(cè)量?jī)x
- 紫外可見(jiàn)吸收光譜儀
- 原子力顯微鏡
- X射線反射器
- 透射電子顯微鏡
- 橢圓偏振儀
- X射線光電子能譜儀等
4.2.2 本公司可提供聯(lián)用儀器簡(jiǎn)介
- 界面紅外反射吸收光譜儀(PM-IRRAS)
帶極化模塊的界面紅外反射吸收光譜儀主要用來(lái)決定分子的取向和化學(xué)組成。
2. 布魯斯特角顯微鏡(BAM)
可進(jìn)行薄膜的均一性、相行為和形貌的單分子層成像和光學(xué)觀測(cè)。
3. 表面電位測(cè)量?jī)x(SPOT)
使用無(wú)損振蕩板式電容技術(shù)來(lái)監(jiān)測(cè)薄膜的電位變化,從而對(duì)單分子層的電學(xué)性質(zhì)進(jìn)行表征。提供堆積密度和取向等信息,可對(duì)任何Langmuir等溫測(cè)試進(jìn)行補(bǔ)充。
4. 界面剪切流變儀(ISR)
這種*的剪切流變儀可以測(cè)量界面處的粘彈性。適用于氣-液或油-水的研究,在控制表面壓的同時(shí),可對(duì)粘彈性進(jìn)行分析。
5. 產(chǎn)品應(yīng)用
5.1 應(yīng)用范圍
- 生物膜及生物分子間的相互作用
- 細(xì)胞膜模型(如:蛋白質(zhì)與離子的相互作用)
- 構(gòu)象變化及反應(yīng)
- 藥物傳輸及行為
- 有機(jī)及無(wú)機(jī)涂料
- 具有光學(xué)、電學(xué)及結(jié)構(gòu)特性的功能性材料
- 新型涂料:納米管、納米線、石墨烯等
- 表面反應(yīng)
- 聚合反應(yīng)
- 免疫反應(yīng)、酶-底物反應(yīng)
- 生物傳感器、表面固定催化劑
- 表面吸附和脫附
- 表面活性劑及膠體
- 配方科學(xué)
- 膠體穩(wěn)定性
- 乳化、分散、泡沫穩(wěn)定性
- 薄膜的流變性
- 擴(kuò)張流變
- 界面剪切流變(與KSV NIMA ISR 聯(lián)用)
5.2 客戶發(fā)表成果(部分)
- Q. Guo et al., J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 630-631. (IF= 11.444)
- Kumaki et al., Macromolecules 1988, 21, 749-755. (IF= 5.927)
- S. Sheiko et al., Nature Materials 2013, 12, 735-740. (IF= 36.4)
- Q. Zheng et al., ACS Nano 2011, 5(7), 6039–6051. (IF= 12.033)
- Azin Fahimi et al., CARBON 2013, 64, 435 – 443. (IF=6.16)
- Xiluan Wang et al., J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 6338–6342. (IF= 11.444)
- Zhiyuan Zeng et al. Adv. Mater. 2012, 24, 4138–4142. (IF= 15.409)
6.
瑞典百歐林科技有限公司上海代表處
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:200120
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