FT-335 四探針電阻率測試儀
參考價(jià) | ¥ 65489 |
訂貨量 | ≥1 g |
- 公司名稱 寧波瑞柯微智能科技有限公司
- 品牌 ROOKO/瑞柯
- 型號 FT-335
- 產(chǎn)地 湖南
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/6/14 14:19:22
- 訪問次數(shù) 10406
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價(jià)格區(qū)間 | 1萬-3萬 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,交通,紡織皮革,電氣 |
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自動化度 | 半自動 |
FT-335四探針電阻率測試儀參數(shù)資料:
1.方塊電阻范圍:10-2~2×105Ω/□。
2.電阻率范圍:10-3~2×106Ω-cm。
3.測試電流范圍:0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA。
4.電流精度:±0.3%讀數(shù)。
5.電阻精度:≤0.5%。
6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率。
7.測試方式: 普通單電測量。
8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗:<30W。
9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果)。
10.選購功能: 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺。
11.測試探頭: 探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針。
FT-335四探針電阻率測試儀按照硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84)及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、
GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn),本機(jī)配置232電腦接口及USB兩種接口,本機(jī)結(jié)合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差,比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量,準(zhǔn)確。
本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。
液晶顯示,無需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運(yùn)輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報(bào)表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項(xiàng)目要求選購。
廣泛用于:覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、
合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試、硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料,EMI 防護(hù)材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等。