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全自動(dòng)帶顯微鏡多點(diǎn)測(cè)量膜厚儀
WD4000晶圓微觀三維形貌測(cè)量系統(tǒng)PX 4956
GL-SPM-D2T光學(xué)薄膜測(cè)量?jī)xPX 9876
UltraFilm - 薄膜測(cè)量系統(tǒng)PX 7310
BX-G3487高精度太陽(yáng)膜透過(guò)率測(cè)量?jī)xPX 3669
FPEH-MX70X晶圓翹曲度測(cè)量?jī)xPX 4176
臺(tái)式離線接觸式測(cè)厚儀TOF-6R001PX 6099
NH-3SPs高精度點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦3D測(cè)量機(jī)PX 1456
SpectraRay/4薄膜計(jì)量光譜儀軟件PX 1900
F40Filmetrics 光學(xué)薄膜測(cè)厚儀PX 3006
kSA XRF 在線X射線熒光膜厚測(cè)試設(shè)備PX 3212
SM280自動(dòng)顯微薄膜厚度測(cè)繪儀PX 3258
TruPlasma Match1000Huttinger 等離子射頻電源PX 3164
qirui光學(xué)薄膜測(cè)厚儀PX 2745
WD4000晶圓微納幾何三維形貌測(cè)量系統(tǒng)PX 4956
WD4000晶圓微納三維形貌量測(cè)系統(tǒng)PX 4956
UltraFilm薄膜測(cè)量系統(tǒng)PX 7310
WD4000晶圓細(xì)磨硅片粗糙度測(cè)量系統(tǒng)PX 4956
WD4000半導(dǎo)體晶圓厚度量測(cè)系統(tǒng)PX 4956
FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)PX 7310
FR-Ultra晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)PX 7310
FR-ES精簡(jiǎn)薄膜厚度測(cè)量?jī)xPX 7310
FR-Ultra 晶圓厚度測(cè)量系統(tǒng)PX 7310
BX-G3486高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3669
BX-G3484高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3669
BX-G3477高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3669
BX-G3472高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3669
BX-G3466高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3669
BX-G3466高性能-太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3669
BX-G3459高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3669
BX-G3458高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3669
BX-G3457高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3669
BX-G3456高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3669
BX-G3455多功能隔熱膜測(cè)試儀PX 3669
BX-G3454多功能隔熱膜溫度測(cè)試儀PX 3669
BX-G3453高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3669
BX-G3450高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3669
BX-G3449高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3669
BX-G3448高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3669
FPTOH-TOHOSPEC3100進(jìn)口光學(xué)薄膜測(cè)厚儀PX 4176
FPESS-Photon RT光學(xué)鍍膜檢測(cè)儀PX 4176
薄膜生長(zhǎng)設(shè)備
工藝測(cè)量和檢測(cè)設(shè)備
集成電路測(cè)試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
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離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
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組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
晶圓微觀三維形貌測(cè)量系統(tǒng)
晶圓微納幾何三維形貌測(cè)量系統(tǒng)
晶圓微納三維形貌量測(cè)系統(tǒng)
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半導(dǎo)體晶圓厚度量測(cè)系統(tǒng)
進(jìn)口光學(xué)膜厚儀
聚合物薄膜測(cè)厚儀,進(jìn)口膜厚儀
光學(xué)鍍膜檢測(cè)儀
臺(tái)階輪廓儀
芯片半導(dǎo)體晶圓非接觸式光學(xué)3D表面輪廓儀
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賽默飛色譜及質(zhì)譜
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