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UltraShape - 晶圓關(guān)鍵尺寸測量系統(tǒng)PX 7330
WD4000無圖晶圓粗糙度測量系統(tǒng)PX 4976
PZ-332C半導(dǎo)體共面性測量設(shè)備PX 5917
BXS11-HJ30焊接檢驗(yàn)尺PX 3539
ELIONIX-5超顯微壓痕硬度計(jì)PX 1950
DM025數(shù)顯千分尺PX 3910
德國Nedo伸縮式測量尺F380112供應(yīng)PX 4902
T2000-TLS-01韓國TANKTECH儲(chǔ)罐罐底干燥度測試尺PX 1191
QVT1- L202Z1L-DMITUTOYO三豐/精密測量儀/影像測量機(jī)PX 4036
Orzew FC20/FC20X全自動(dòng)晶圓關(guān)鍵尺寸檢測及分選機(jī)PX 7330
WD4000晶圓厚度Wafer參數(shù)量測設(shè)備PX 4976
WD4000晶圓表面形貌量測設(shè)備PX 4976
WD4000半導(dǎo)體晶圓形貌檢測機(jī)PX 4976
WD4000系列晶圓wafer厚度測量設(shè)備PX 4976
SAM超聲波掃描顯微鏡PX 1950
SAM Premium超聲掃描顯微鏡PX 1950
SENTECH SENDURO®MEMS全自動(dòng)薄膜質(zhì)量控制PX 1950
ET8000型測量機(jī)PX 1950
DSM8/200 Gen2測量系統(tǒng)PX 1950
WD4000系列半導(dǎo)體晶圓幾何形貌量測設(shè)備PX 4976
WD4000系列半導(dǎo)體晶圓大翹曲wafer測量設(shè)備PX 4976
SAM全自動(dòng)全自動(dòng)超聲波掃描顯微鏡PX 1950
WD4000晶圓Wafer厚度測量系統(tǒng)PX 4976
WD4000晶圓微觀形貌測量系統(tǒng)PX 4976
WD4000無圖晶圓膜厚檢測設(shè)備PX 4976
WD4000無圖晶圓表面形貌粗糙度2D3D檢測機(jī)PX 4976
DEKTAK XT/XTL半導(dǎo)體測量儀器-臺(tái)階儀PX 0
QVT1-L404Z1L-DMITUTOYO三豐/精密測量儀/影像測量機(jī)PX 4036
QV-X302P1L-EMITUTOYO三豐/精密測量儀/影像測量機(jī)PX 4036
QV-X404P1L-EMITUTOYO三豐/精密測量儀/影像測量機(jī)PX 4036
QV-X404P1C-EMITUTOYO三豐/精密測量儀/影像測量機(jī)PX 4036
QV-X404T1L-EMITUTOYO三豐/精密測量儀/影像測量機(jī)PX 4036
QV-X404T1C-EMITUTOYO三豐/精密測量儀/影像測量機(jī)PX 4036
QV-X606P1L-EMITUTOYO三豐/精密測量儀/影像測量機(jī)PX 4036
QV-X606P1C-EMITUTOYO三豐/精密測量儀/影像測量機(jī)PX 4036
QV-X606T1L-EMITUTOYO三豐/精密測量儀/影像測量機(jī)PX 4036
QV-X606T1C-EMITUTOYO三豐/精密測量儀/影像測量機(jī)PX 4036
RTX-0605-AMITUTOYO三豐/精密測量儀/影像測量機(jī)PX 4036
ROUNDTRACER S300MITUTOYO三豐/精密測量儀/圓形示蹤器PX 4036
FTA-S4D3000MITUTOYO三豐/精密測量儀/圓形示蹤器PX 4036
薄膜生長設(shè)備
工藝測量和檢測設(shè)備
集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
無圖晶圓粗糙度測量系統(tǒng)
半導(dǎo)體共面性測量設(shè)備
晶圓厚度Wafer參數(shù)量測設(shè)備
晶圓表面形貌量測設(shè)備
半導(dǎo)體晶圓形貌檢測機(jī)
晶圓wafer厚度測量設(shè)備
半導(dǎo)體晶圓幾何形貌量測設(shè)備
半導(dǎo)體晶圓大翹曲wafer測量設(shè)備
MITUTOYO三豐/精密測量儀/影像測量機(jī)
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賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
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