GL-SPM-D2T 光學(xué)薄膜測量儀
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 尤尼柯(上海)儀器有限公司
- 品牌 UNICO/尤尼柯
- 型號 GL-SPM-D2T
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/12/6 13:06:02
- 訪問次數(shù) 2686
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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GL-SPM-D2T光學(xué)薄膜測量儀?——手機屏透過率檢測系統(tǒng)是能快速準(zhǔn)確地測量手機屏幕目的透光率以及各類平面光學(xué)元件的透射率,可用于實時在線檢測,實現(xiàn)產(chǎn)品全檢的儀器。
光學(xué)薄膜測量儀能快速準(zhǔn)確地測量各類平面光學(xué)元件的透射率,可用于實時在線檢測,實現(xiàn)產(chǎn)品全檢。適用于手機屏、手機膜、手機殼、眼鏡、太陽鏡、防曬保護膜的透光率測量,塑料制品的透光率測量,透明或半透明材料透光率測量/棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測。
GL-SPM-D2T光學(xué)薄膜測量儀規(guī)格參數(shù):
光學(xué)薄膜測量儀能快速準(zhǔn)確地測量各類平面光學(xué)元件的透射率,可用于實時在線檢測,實現(xiàn)產(chǎn)品全檢。適用于手機屏、手機膜、手機殼、眼鏡、太陽鏡、防曬保護膜的透光率測量,塑料制品的透光率測量,透明或半透明材料透光率測量/棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測。
GL-SPM-D2T光學(xué)薄膜測量儀規(guī)格參數(shù):
項目 | 指標(biāo) | 備注 |
波長范圍 | 190-800nm | 取決于光柵 |
光譜分辨率 | FWHM0.84@577μm狹縫 | 與波長和狹縫有關(guān) |
雜散光 | 0.06%@532nm,0.045%@785 | 與波長有關(guān) |
光源 | 20W鹵素?zé)簟㈦疅?/span> | |
積分時間 | 8ms-15min | 與CDD有關(guān) |
電源 | 220V@50Hz | |
USB數(shù)據(jù)線 | 1.5m帶有USBmini-B接頭的數(shù)據(jù)線 | |
光譜儀自動配置 | 自動配置包括讀標(biāo)定參數(shù) | |
數(shù)據(jù)輸出 | 灰度值隨波長或CCD像素變化(可選擇) | |
尺寸 | 450mm*300mm*207mm | |
重量 | 6.5KG | |
工作溫度 | 0℃~45℃ |