Quattro ESEM環(huán)境掃描電鏡
- 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/8/28 13:23:53
- 訪問次數(shù) 1076
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工 |
Quattro ESEM環(huán)境掃描電鏡
環(huán)境掃描電鏡(ESEM)，用于研究包括含水樣品在內(nèi)的各種樣品
Quattro ESEM 環(huán)境掃描電鏡的主要特點(diǎn)
動態(tài)原位實(shí)驗(yàn)
對自然狀態(tài)下的材料進(jìn)行原位研究：具有環(huán)境模式的高分辨場發(fā)射掃描電鏡 (ESEM)。原位分析的溫度范圍為 -165°C 至 1400°C，搭配使用各種冷臺和熱臺。
最大限度地減少樣品制備時(shí)間
低真空和ESEM環(huán)境掃描電鏡功能可對非導(dǎo)電和/或含水樣品進(jìn)行無電荷/無脫水成像和分析。
Quattro ESEM環(huán)境掃描電鏡樣品觀察
在各種操作模式下均可實(shí)現(xiàn) SE 和 BSE 同時(shí)成像。
優(yōu)異的分析能力
優(yōu)異的分析能力來自可以最多同時(shí)使用 3 個(gè) EDS 檢測器的腔室，并具有對稱180°的 EDS 接口、WDS接口以及和EDS幾何共面的EBSD接口。對非導(dǎo)電樣品的出色分析：在低真空條件下，Quattro ESEM高溫掃描電鏡的減小電子束散射技術(shù)可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的 EDS 和 EBSD。
靈活且精確
靈活且精確的優(yōu)中心樣品臺，傾斜范圍達(dá) 105°，可從各個(gè)角度觀察樣品。
易于使用的軟件及創(chuàng)新性選項(xiàng)
直觀易用且?guī)в杏脩糁改虾统废δ艿能浖?。使用更少的鼠?biāo)點(diǎn)擊，更快速地完成工作。新的創(chuàng)新選項(xiàng)，包括可伸縮 RGB 陰極發(fā)光 (CL) 檢測器、1100°C 高真空加熱載物臺和 AutoScript 4 軟件（基于 Python 的API腳本工具）。
Quattro ESEM 環(huán)境掃描電鏡的規(guī)格
| 分辨率 |
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| 標(biāo)準(zhǔn)檢測器 |
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| 可選檢測器 |
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| ChemiSEM 技術(shù)（可選） |
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| 樣品臺減速（可選） |
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| 低真空模式 |
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| 樣品臺 |
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| 標(biāo)準(zhǔn)樣品支架 |
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| 樣品倉 |
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| 原位配件（可選） |
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| 軟件選項(xiàng) |
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