Prisma E環(huán)境掃描電鏡
- 公司名稱(chēng) 賽默飛電子顯微鏡
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/8/28 13:25:39
- 訪問(wèn)次數(shù) 815
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工 |
具有環(huán)境功能的掃描電鏡,適用于工業(yè)研究和開(kāi)發(fā)
主要特點(diǎn)
觸手可及的元素信息
通過(guò)選配 ChemiSEM 技術(shù)和集成能量色散 X 射線光譜(EDS)進(jìn)行實(shí)時(shí)成分面分布以實(shí)現(xiàn)直觀元素分析。這種始終在線的分析能力可極大提高您的工作效率,并獲取最完整的樣品信息。
出色的圖像質(zhì)量
靈活的真空模式以及通過(guò)透鏡抽真空技術(shù),使Prisma E環(huán)境掃描電鏡可在低電壓和低真空下獲得出色的圖像質(zhì)量。且在每個(gè)操作模式下,都可實(shí)現(xiàn)二級(jí)電子 (SE) 和背散射電子 (BSE) 同時(shí)成像。
最大限度地減少樣品制備時(shí)間
低真空和ESEM環(huán)境掃描電鏡功能可對(duì)非導(dǎo)電和/或含水樣品進(jìn)行無(wú)電荷/或無(wú)脫水成像和分析。
對(duì)自然狀態(tài)下的材料進(jìn)行原位研究
憑借 Prisma E的環(huán)境掃描電鏡 (ESEM) 模式、可在樣品加熱、放氣或潮濕的狀態(tài)下直接成像。
優(yōu)異的分析能力
倉(cāng)室支持最多安裝3 個(gè) EDS 探測(cè)器,其中兩個(gè)EDS接口呈180°對(duì)稱(chēng),并可安裝波長(zhǎng)色散光譜 (WDS)、共面 EDS/EBSD,并可在低真空模式下實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量無(wú)電荷 EDS 和 EBSD 分析。
規(guī)格
參數(shù) |
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標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)器 |
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可選檢測(cè)器 |
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ChemiSEM 技術(shù)(可選) |
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樣品臺(tái)減速(可選) |
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低真空模式 |
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樣品臺(tái) |
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標(biāo)準(zhǔn)樣品支架 |
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樣品倉(cāng) |
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原位配件(可選) |
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軟件選項(xiàng) |
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易于使用
Prisma E環(huán)境掃描電鏡相關(guān)操作軟件具有用戶指南和撤消功能,可以使新手用戶進(jìn)行高效的操作,也可極大減少專(zhuān)家級(jí)用戶的操作負(fù)荷。