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Volumescope 2 SEM掃描電鏡

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
  • 品牌 FEI/賽默飛
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2024/8/28 13:29:41
  • 訪問(wèn)次數(shù) 685
產(chǎn)品標(biāo)簽

掃描電鏡SEMVolumescope 2

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FEI公司,2016年被賽默飛世爾科技收購(gòu),成為賽默飛材料與結(jié)構(gòu)分析(MSD) 電鏡事業(yè)部,是顯微鏡和微量分析解決方案的創(chuàng)新者和供應(yīng)商。 我們提供掃描電子顯微鏡SEM,透射電子顯微鏡TEM和雙束-掃描電子顯微鏡DualBeam FIB-SEM,結(jié)合先進(jìn)的軟件套件,運(yùn)用廣泛的樣本類型,通過(guò)將高分辨率成像與物理、元素、化學(xué)和電學(xué)分析相結(jié)合,使客戶的問(wèn)題變成有效可用的數(shù)據(jù)。

掃描電子顯微鏡,雙束電鏡,透射電子顯微鏡,冷凍電鏡,X射線光電子能譜儀,三維可視化軟件

產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工

Volumescope 2 SEM掃描電鏡

適用于對(duì)樣品進(jìn)行大體積連續(xù)切片以及多能量反卷積三維重構(gòu)的SEM掃描電鏡

Volumescope 2 3D SEM的主要特點(diǎn)

簡(jiǎn)單易用的技術(shù)

通過(guò)簡(jiǎn)單易操作的技術(shù)對(duì)實(shí)驗(yàn)進(jìn)行控制??梢灾貜?fù)調(diào)用工作與系統(tǒng)設(shè)置,在采集過(guò)程中可以生成多個(gè)感興趣區(qū)域。

在采集過(guò)程中可視化與導(dǎo)航

在采集期間可以利用Thermo Scientific Amira Live Tracker軟件進(jìn)行可視化和導(dǎo)航,優(yōu)化/控制結(jié)果。進(jìn)行無(wú)人值守的大體積三維數(shù)據(jù)采集和重構(gòu)。

保護(hù)珍貴樣品

對(duì)一系列廣泛的樣品類型在每個(gè)采集步驟都有驗(yàn)證過(guò)的解決方案;對(duì)于容易荷電的樣品可使用低真空探測(cè)器進(jìn)行成像。

輕松快速更換顯微切片機(jī)

輕松快速地更換顯微切片機(jī),可以通過(guò)使用Thermo Scientific Maps軟件實(shí)現(xiàn)自動(dòng)斷層掃描。


Volumescope 2 SEM掃描電鏡的性能數(shù)據(jù)

電子光學(xué)系統(tǒng)
  • 高分辨率場(chǎng)發(fā)射 掃描電鏡鏡筒

    • 高穩(wěn)定性肖特基場(chǎng)發(fā)射槍

    • 復(fù)合末端透鏡:靜電、無(wú)漏磁、浸沒(méi)式磁透鏡復(fù)合透鏡

  • 兼具電磁透鏡和靜電透鏡的雙物鏡

離子源壽命

24 個(gè)月

自動(dòng)化
  • 自動(dòng)烘烤

  • 自動(dòng)啟動(dòng)

  • 無(wú)需機(jī)械對(duì)中

  • 自動(dòng)加熱光闌

  • 用戶指導(dǎo)和鏡筒預(yù)設(shè)功能

載物臺(tái)

雙載物臺(tái)掃描偏轉(zhuǎn)

電子束
  • 連續(xù)電子束電流控制和優(yōu)化光闌

  • 束流范圍:1 pA 至 400 nA

    • 在連續(xù)切片成像 SEM 中:50 pA – 3.2 nA

  • 著陸能量范圍:20 eV – 30 keV

  • 加速電壓范圍:200 V – 30 kV

    • 在連續(xù)切片成像 SEM 中:500 V – 6 kV

  • 常規(guī) SEM 高真空成像最佳工作距離下的分辨率

    • 在 30 keV STEM 下為 0.8 nm

    • 在 15 keV 下為 0.7 nm

    • 在 1 keV 下為 1.0 nm

樣品倉(cāng)
  • 內(nèi)寬:340 mm

  • 分析工作距離:10 mm

  • 端口:12

探測(cè)器
  • 連續(xù)切片成像探測(cè)器

    • T1 鏡筒內(nèi)低位探測(cè)器

    • VS-DBS:低真空背散射電子探測(cè)器

  • T2 鏡筒內(nèi)中位探測(cè)器

  • Everhart-Thornley SE 檢測(cè)器 (ETD)

  • IR-CCD

  • 低真空二次電子檢測(cè)器

  • STEM 3+ 分割式伸縮型探測(cè)器測(cè)器

  • 提供額外檢測(cè)器

真空系統(tǒng)
  • 無(wú)油的真空系統(tǒng)

  • 1 × 220 l/s TMP

  • 1 × PVP-scroll

  • 2 × IGP

  • 樣品倉(cāng)真空(高真空)<6.3 × 10-6 mbar(泵工作 72 小時(shí)后)

  • 低真空模式高達(dá) 50 Pa,可對(duì)不導(dǎo)電樣品進(jìn)行電荷補(bǔ)償

  • 抽真空時(shí)間:≤3.5 分鐘

樣品臺(tái)
  • 標(biāo)準(zhǔn)多功能樣品臺(tái);以方式直接安裝在載物臺(tái)上;容納多達(dá) 18 個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品托(直徑 12 mm)、三個(gè)預(yù)傾斜樣品托、兩個(gè)垂直和兩個(gè)預(yù)傾斜樣品臺(tái)

  • 每個(gè)可選排桿能容納 6 個(gè) S/TEM 載網(wǎng)

  • 晶圓及定制樣品臺(tái)





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